eng
Competent opinion
Компетентное мнение
В. Лучинин.
Наноиндустрия и безопасность Цель данной работы – анализ влияния быстро прогрессирующей области науки и техники, основанной на использовании новых нетрадиционных свойств и функциональных возможностей материалов, процессов и систем при переходе к наномасштабам, на возникновение потенциальных рисков и угроз, а также оценка перспективных направлений активного использования наноиндустрии для их предупреждения, ослабления и устранения, т.е. уменьшения вероятности перехода опасности из возможности в действительность.
Наноиндустрия и безопасность Цель данной работы – анализ влияния быстро прогрессирующей области науки и техники, основанной на использовании новых нетрадиционных свойств и функциональных возможностей материалов, процессов и систем при переходе к наномасштабам, на возникновение потенциальных рисков и угроз, а также оценка перспективных направлений активного использования наноиндустрии для их предупреждения, ослабления и устранения, т.е. уменьшения вероятности перехода опасности из возможности в действительность.
А. Аверков.
Коммерциализация нанотехнологий: отношения с инвестором Нанотехнологии способны не просто делать привычные вещи лучше или дешевле, по определенным параметрам улучшая их минимум в несколько раз. Фактически эти вещи преобразуются в совершенно новые. Как в свое время перо осталось прототипом шариковой ручки, так и многие широко применяемые в быту вещи могут оказаться в будущем лишь прототипами, созданных с применением нанотехнологий изделий.
Коммерциализация нанотехнологий: отношения с инвестором Нанотехнологии способны не просто делать привычные вещи лучше или дешевле, по определенным параметрам улучшая их минимум в несколько раз. Фактически эти вещи преобразуются в совершенно новые. Как в свое время перо осталось прототипом шариковой ручки, так и многие широко применяемые в быту вещи могут оказаться в будущем лишь прототипами, созданных с применением нанотехнологий изделий.
Industrial nanotechnologies
Промышленные нанотехнологии
В. Одиноков, Г. Павлов.
Специализированное оборудование для исследования и реализации новых технологий НИИ точного машиностроения (НИИТМ) основан в 1962 году. Входит в бизнес-направление "Микроэлектронные решения" ОАО "СИТРОНИКС".
Предприятие специализируется на разработке вакуумного оборудования для нанесения тонких пленок, плазмохимического травления, ионной имплантации приповерхностных слоев, стимулированного плазмой газофазного осаждения, (Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition – PE CVD), а также физико-термического оборудования для осуществления процессов диффузии, окисления и восстановления, газофазного осаждения, отжига, в том числе быстрого термического.
Специализированное оборудование для исследования и реализации новых технологий НИИ точного машиностроения (НИИТМ) основан в 1962 году. Входит в бизнес-направление "Микроэлектронные решения" ОАО "СИТРОНИКС".
Предприятие специализируется на разработке вакуумного оборудования для нанесения тонких пленок, плазмохимического травления, ионной имплантации приповерхностных слоев, стимулированного плазмой газофазного осаждения, (Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition – PE CVD), а также физико-термического оборудования для осуществления процессов диффузии, окисления и восстановления, газофазного осаждения, отжига, в том числе быстрого термического.
Test & Measurement
Контроль и измерения
В. Гелевер.
Просвечивающий рентгеновский микроскоп наноразрешения В последнее время в связи с ростом интереса к нанотехнологиям активизировались исследования наноразмерных объектов и объектов с наноразмерной структурой, которые с позиций микроскопии можно обобщенно называть наноструктурными объектами (НСО). Для исследований таких НСО широко используются высокоразрешающие атомно-силовая и электронная микроскопии. Рентгеновская микроскопия (топография) на рентгеновских трубках мало применяется в этой области из-за низкого разрешения. Pазработка ООО "ДИАГНОСТИКА-М" должна позволить в значительной степени решить существующие проблемы.
Просвечивающий рентгеновский микроскоп наноразрешения В последнее время в связи с ростом интереса к нанотехнологиям активизировались исследования наноразмерных объектов и объектов с наноразмерной структурой, которые с позиций микроскопии можно обобщенно называть наноструктурными объектами (НСО). Для исследований таких НСО широко используются высокоразрешающие атомно-силовая и электронная микроскопии. Рентгеновская микроскопия (топография) на рентгеновских трубках мало применяется в этой области из-за низкого разрешения. Pазработка ООО "ДИАГНОСТИКА-М" должна позволить в значительной степени решить существующие проблемы.
Сканируя нанопространство… Революционная премьера от CARL ZEISS!
Нанотехнологии уже давно прочно вошли в обиход жизненного пространства – сейчас трудно представить, чего была лишена наука, оперировавшая стандартными единицами измерения. Но даже классическая модель микроскопа – со всеми его техническими усовершенствованиями – перед лицом наночастиц и прижизненного исследования биоматериала становится беспомощна.
Д. Мухин, И. Яминский.
Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп [1], а чуть позднее – атомно-силовой [2], с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно.
В связи с этим появилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью.
Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп [1], а чуть позднее – атомно-силовой [2], с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно.
В связи с этим появилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью.
Conferences, Exhibitions, Seminars
Конференции, выставки, семинары
Н.Жуков.
Международная нанотехнологическая выставка и конференция Nano tech 2008 В происходящем нанотехнологическом буме с его высокодинамичным обновлением информации важное место занимают международные выставки, особенно
в таких авангардных регионах, как Япония, которая еще в 2001 г., вслед за США, объявила о плане "Нанотех для нового общества".
Международная нанотехнологическая выставка и конференция Nano tech 2008 В происходящем нанотехнологическом буме с его высокодинамичным обновлением информации важное место занимают международные выставки, особенно
в таких авангардных регионах, как Япония, которая еще в 2001 г., вслед за США, объявила о плане "Нанотех для нового общества".