eng
Competent opinion
Компетентное мнение
Наша основная задача – опережающие разработки.Рассказывает М.Трусов, исполнительный директор компании "Аист–НТ"
В России не так много фирм, выпускающих контрольно-измерительное оборудование мирового уровня. Одна из них – компания "АИСТ-НТ", специализирующаяся на разработке и производстве сканирующих зондовых микроскопов. О продукции компании, ее перспективах, о проблемах и возможностях современного рынка сканирующей зондовой микроскопии – наш разговор с исполнительным директором компании "АИСТ-НТ" Михаилом Александровичем Трусовым.
Industrial nanotechnologies
Промышленные нанотехнологии
D. Krasovitsky, A. Alekseev, S. Petrov, V.Chalyj
Standardized Manufacture of III-N Heterostructures for Solid-State Microwave Electronics Unique possibilities of the III group wide-band semiconductor nitrides for powerful transmitter-receivers of the microwave range, and ways of overcoming major problems, which arise during development of technology for instrument nitride heterostructures, have been considered. Creation of specialized growth equipment and application of innovative heterostructure designs and their growth modes allowed to achieve world-level results and expand prospects for improvement of such structures.
Standardized Manufacture of III-N Heterostructures for Solid-State Microwave Electronics Unique possibilities of the III group wide-band semiconductor nitrides for powerful transmitter-receivers of the microwave range, and ways of overcoming major problems, which arise during development of technology for instrument nitride heterostructures, have been considered. Creation of specialized growth equipment and application of innovative heterostructure designs and their growth modes allowed to achieve world-level results and expand prospects for improvement of such structures.
Д.Красовицкий, А.Алексеев, С.Петров, В.Чалый
Стандартизованное производство гетероструктур III-N для твердотельной СВЧ-электроники Рассмотрены возможности широкозонных полупроводниковых нитридов III группы для мощных приемопередающихустройств СВЧ-диапазона, пути преодоления проблем, возникающих при разработке технологии приборных нитридных гетероструктур. Создание специализированного ростового оборудования и применение новаторских конструкций гетероструктур и режимов их роста позволили достичь результатов мирового уровня и расширить перспективы улучшения таких структур.
Стандартизованное производство гетероструктур III-N для твердотельной СВЧ-электроники Рассмотрены возможности широкозонных полупроводниковых нитридов III группы для мощных приемопередающихустройств СВЧ-диапазона, пути преодоления проблем, возникающих при разработке технологии приборных нитридных гетероструктур. Создание специализированного ростового оборудования и применение новаторских конструкций гетероструктур и режимов их роста позволили достичь результатов мирового уровня и расширить перспективы улучшения таких структур.
Test & Measurement
Контроль и измерения
V. Ivanov, Yu. Tokunov
Measurement Support of Nanoindustry Production Companies Production Companies
Efficient measurement support to meet demand of companies working in the field of nanoindustry is a key condition for production of competitive and safe products and removal of obstacles in the way of entering international markets. Taking into account abovementioned tasks ROSNANO forms its own system of measurement support. In 2010 to fulfill service functions of this system a subsidiary company – ROSNANO Metrological Center integrating functions and competence of a company’s certification center was established.
Measurement Support of Nanoindustry Production Companies Production Companies
Efficient measurement support to meet demand of companies working in the field of nanoindustry is a key condition for production of competitive and safe products and removal of obstacles in the way of entering international markets. Taking into account abovementioned tasks ROSNANO forms its own system of measurement support. In 2010 to fulfill service functions of this system a subsidiary company – ROSNANO Metrological Center integrating functions and competence of a company’s certification center was established.
В.Иванов, Ю.Токунов
Метрологическое обеспечение производственных компаний наноиндустрии Удовлетворение потребностей работающих в наноиндустрии компаний в метрологическом обеспечении – важное условие выпуска конкурентоспособной, безопасной продукции и снижения барьеров при ее выводе на рынки. РОСНАНО формирует систему метрологического обеспечения. Для исполнения сервисных функций этой системы в 2010 году создана дочерняя компания – Метрологический центр РОСНАНО, интегрировавшая компетенции сертификационного центра компании.
Метрологическое обеспечение производственных компаний наноиндустрии Удовлетворение потребностей работающих в наноиндустрии компаний в метрологическом обеспечении – важное условие выпуска конкурентоспособной, безопасной продукции и снижения барьеров при ее выводе на рынки. РОСНАНО формирует систему метрологического обеспечения. Для исполнения сервисных функций этой системы в 2010 году создана дочерняя компания – Метрологический центр РОСНАНО, интегрировавшая компетенции сертификационного центра компании.
M. Veber
Confocal Microscopy of Micro- and Nanostructured Surfaces of Materials One of the key aspects of modern material science is receiving detailed information on a surface structure. Two-dimensional profilometry based on roughness parameters are not enough for industrial inspection, complex three-dimensional description of topography including nonstatic characteristics is required. In this connection confocal microscopy (CM) has serious advantages in view of contactless and quick receiving of such parameters. It is this method that provides description of determined and non-determined surface structures.
Confocal Microscopy of Micro- and Nanostructured Surfaces of Materials One of the key aspects of modern material science is receiving detailed information on a surface structure. Two-dimensional profilometry based on roughness parameters are not enough for industrial inspection, complex three-dimensional description of topography including nonstatic characteristics is required. In this connection confocal microscopy (CM) has serious advantages in view of contactless and quick receiving of such parameters. It is this method that provides description of determined and non-determined surface structures.
М.Вебер
Конфокальная микроскопия микро- и наноструктурированных поверхностей материалов Один из ключевых моментов материаловедения – получение подробной информации о поверхности. Уже недостаточно двухмерной профилометрии на основе параметров шероховатости – требуется комплексное трехмерное описание топографии, включающее нестатические характеристики. Конфокальная микроскопия (КМ) имеет серьезные преимущества в плане бесконтактного и оперативного получения таких параметров. Именно этот метод обеспечивает описание детерминированных и недетерминированных структур поверхности.
Конфокальная микроскопия микро- и наноструктурированных поверхностей материалов Один из ключевых моментов материаловедения – получение подробной информации о поверхности. Уже недостаточно двухмерной профилометрии на основе параметров шероховатости – требуется комплексное трехмерное описание топографии, включающее нестатические характеристики. Конфокальная микроскопия (КМ) имеет серьезные преимущества в плане бесконтактного и оперативного получения таких параметров. Именно этот метод обеспечивает описание детерминированных и недетерминированных структур поверхности.
A.Useinov, K. Kravchuk, N. Lvova
Measurement of Wear Resistance of Super Thin Nanostructured Coatings Along with thickness, roughness, hardness and adhesion, wear resistance is one of the major mechanical characteristics of modern coatings. Reduction in thickness of coatings to units and dozens of nanometers significantly complicates the task of correct definition of their physicomechanical characteristics. A complex approach to research of thin films can give comprehensive information about their properties. The work proposes a method to measure wear resistance of protective coatings with the help of scanning nano hardness meter "NanoScan-3D".
Measurement of Wear Resistance of Super Thin Nanostructured Coatings Along with thickness, roughness, hardness and adhesion, wear resistance is one of the major mechanical characteristics of modern coatings. Reduction in thickness of coatings to units and dozens of nanometers significantly complicates the task of correct definition of their physicomechanical characteristics. A complex approach to research of thin films can give comprehensive information about their properties. The work proposes a method to measure wear resistance of protective coatings with the help of scanning nano hardness meter "NanoScan-3D".
А.Усеинов, К.Кравчук, Н.Львова
Измерение износостойкости сверхтонких наноструктурированных покрытий Износостойкость, толщина, шероховатость, твердость и адгезия, – важнейшие механические характеристики покрытий. Уменьшение их толщины до единиц и десятков нм усложняет задачу определения их физико-механических характеристик. Комплексный подход к исследованию тонких пленок может дать наиболее полную информацию об их свойствах. В работе предложен метод измерения износостойкости защитных покрытий с помощью сканирующего нанотвердомера "НаноСкан-3D".
Измерение износостойкости сверхтонких наноструктурированных покрытий Износостойкость, толщина, шероховатость, твердость и адгезия, – важнейшие механические характеристики покрытий. Уменьшение их толщины до единиц и десятков нм усложняет задачу определения их физико-механических характеристик. Комплексный подход к исследованию тонких пленок может дать наиболее полную информацию об их свойствах. В работе предложен метод измерения износостойкости защитных покрытий с помощью сканирующего нанотвердомера "НаноСкан-3D".
Нанотехнологии и образование
I.Yaminsky, A.Erofeev, G.Kiselev, D.Kolesov, A.Protopopova
NanoTurner – that is Serious The article is devoted to machining of materials at the nanoscale. The nanorange is quite usual for modern machining centers. The Japanese concern Sodick, the leader in spark machining, has been producing a machine with subnanometer bars in feedback with a resolution of 0.07 nm since 2000. This machine, Sodick Ultra Nano 100, was designed for production of nano-optical devices: diffraction gratings, fiber optic plates, spherical and aspherical lenses. Using another machine, the milling center Sodick AZ150, one could achieve roughness of the surface of 11 nm. But the title of this article has one more meaning. It turned out that the number of working professionals (turners, millers, polishers and other machine operators) in Russia is at the nanoscale as compared with their number of the best years of the machining industry in the USSR. At the moment it appears that the turner is an extinct species, and here we have to consider a NanoTurner.
NanoTurner – that is Serious The article is devoted to machining of materials at the nanoscale. The nanorange is quite usual for modern machining centers. The Japanese concern Sodick, the leader in spark machining, has been producing a machine with subnanometer bars in feedback with a resolution of 0.07 nm since 2000. This machine, Sodick Ultra Nano 100, was designed for production of nano-optical devices: diffraction gratings, fiber optic plates, spherical and aspherical lenses. Using another machine, the milling center Sodick AZ150, one could achieve roughness of the surface of 11 nm. But the title of this article has one more meaning. It turned out that the number of working professionals (turners, millers, polishers and other machine operators) in Russia is at the nanoscale as compared with their number of the best years of the machining industry in the USSR. At the moment it appears that the turner is an extinct species, and here we have to consider a NanoTurner.
И.Яминский, А.Ерофеев, Г.Киселев, Д.Колесов, А.Протопопова
НаноТокарь – это серьезно Статья посвящена механообработке материалов на наноуровне. Для современных обрабатывающих центров диапазон нано – вполне привычен. Лидер электроискровой и механообработки японский концерн Sodick c 2000 года выпускает станок Sodick Ultra Nano 100 с субнанометровыми линейками разрешением 0,07 нм для производства микро- и нанооптических дифракционных решеток, световодных пластин, линз. Достигаемая шероховатость поверхности с помощью фрезерного центра Sodick AZ150 – 11 нм. В названии заложен и другой смысл. Число токарей, фрезеровщиков, полировщиков и других станочников в России находится на наноуровне от их количества в лучшие годы механообрабатывающей промышленности СССР – токарь стал исчезающей и очень малочисленной профессией. Именно в такой ситуации приходится говорить о НаноТокаре.
НаноТокарь – это серьезно Статья посвящена механообработке материалов на наноуровне. Для современных обрабатывающих центров диапазон нано – вполне привычен. Лидер электроискровой и механообработки японский концерн Sodick c 2000 года выпускает станок Sodick Ultra Nano 100 с субнанометровыми линейками разрешением 0,07 нм для производства микро- и нанооптических дифракционных решеток, световодных пластин, линз. Достигаемая шероховатость поверхности с помощью фрезерного центра Sodick AZ150 – 11 нм. В названии заложен и другой смысл. Число токарей, фрезеровщиков, полировщиков и других станочников в России находится на наноуровне от их количества в лучшие годы механообрабатывающей промышленности СССР – токарь стал исчезающей и очень малочисленной профессией. Именно в такой ситуации приходится говорить о НаноТокаре.
A.Ivanov, M.Kuznezova, V.Luchinin, A.Panin, V.Perepelovsky, V.Shklover
Remote Access to a Multifunctional Analytic and Technology Complex Development of network and communication technologies stimulates formation of remote access to expensive sophisticated equipment and unique methods of research. The article discusses experience of joint work of St.Petersburg State Electrotechnical University «LETI», coordinator of the educational work of National Nanotechnological Network (NNN), and the «Systems for microscopy and analysis» company, an official distributor in Russia of equipment of «FEI Co TOOLS FOR NANOTECH» company, to create a system for remote access to «Helios Nanolab» multifunctional analytical and technological complex (ATC) based on nanosized electron and ion beams.
Remote Access to a Multifunctional Analytic and Technology Complex Development of network and communication technologies stimulates formation of remote access to expensive sophisticated equipment and unique methods of research. The article discusses experience of joint work of St.Petersburg State Electrotechnical University «LETI», coordinator of the educational work of National Nanotechnological Network (NNN), and the «Systems for microscopy and analysis» company, an official distributor in Russia of equipment of «FEI Co TOOLS FOR NANOTECH» company, to create a system for remote access to «Helios Nanolab» multifunctional analytical and technological complex (ATC) based on nanosized electron and ion beams.
А.Иванов, М.Кузнецова, В.Лучинин, А.Панин, В.Перепеловский, В.Шкловер
Дистанционный доступ к многофункциональному аналитико-технологическому комплексу Развитие сетевых информационно-коммуникационных технологий стимулирует становление дистанционного доступа к дорогостоящему оборудованию и уникальным методикам исследований. В статье обсуждается опыт совместной работы ЛЭТИ – координатора образовательного направления Национальной нанотехнологической сети (ННС) и фирмы "Системы для микроскопии и анализа" – официального дистрибьютора в России оборудования компании "FEI Co TOOLS FOR NANOTECH"-–по созданию системы удаленного доступа к многофункциональному аналитико-технологическому комплексу на основе наноразмерных электронного и ионного пучков Helios Nanolab.
Дистанционный доступ к многофункциональному аналитико-технологическому комплексу Развитие сетевых информационно-коммуникационных технологий стимулирует становление дистанционного доступа к дорогостоящему оборудованию и уникальным методикам исследований. В статье обсуждается опыт совместной работы ЛЭТИ – координатора образовательного направления Национальной нанотехнологической сети (ННС) и фирмы "Системы для микроскопии и анализа" – официального дистрибьютора в России оборудования компании "FEI Co TOOLS FOR NANOTECH"-–по созданию системы удаленного доступа к многофункциональному аналитико-технологическому комплексу на основе наноразмерных электронного и ионного пучков Helios Nanolab.
Теги: аналитико-технологический комплекс дистанционный доступ информационно-коммуникационные технологии многофункциональный наноразмерный электронный и ионный пучки
Conferences, Exhibitions, Seminars
Конференции, выставки, семинары
Л.Раткин
Высокие технологии в наноиндустрии Проблемы развития наноиндустрии в России рассматривались на отраслевой конференции, проведенной 20 апреля 2011 года в рамках форума “Высокие технологии XXI века”.
Высокие технологии в наноиндустрии Проблемы развития наноиндустрии в России рассматривались на отраслевой конференции, проведенной 20 апреля 2011 года в рамках форума “Высокие технологии XXI века”.
А.Протопопова, Е.Дубровин, О.Синицына, И.Яминский
Современные достижения бионаноскопии В июне в МГУ им. М.В.Ломоносова в пятый раз прошла конференция «Современные достижения бионаноскопии». Конференция была посвящена высокоразрешающей биологической микроскопии, компьютерному моделированию, инновационной активности в этих областях. В Москву приехали специалисты из России, стран СНГ и США. В рамках конференции были представлены устные доклады приглашенных специалистов и молодых ученых, стендовая сессия, конкурс изображений, интересные и разнообразные практические занятия по атомно-силовой микроскопии.
Современные достижения бионаноскопии В июне в МГУ им. М.В.Ломоносова в пятый раз прошла конференция «Современные достижения бионаноскопии». Конференция была посвящена высокоразрешающей биологической микроскопии, компьютерному моделированию, инновационной активности в этих областях. В Москву приехали специалисты из России, стран СНГ и США. В рамках конференции были представлены устные доклады приглашенных специалистов и молодых ученых, стендовая сессия, конкурс изображений, интересные и разнообразные практические занятия по атомно-силовой микроскопии.
История успеха
V.Bykov
International Recognition, Enthusiasm and Government Support International Recognition, Enthusiasm and Government Support
On June 23, 2011 American journal R&D declared results of R&D 100 Award competition. NANOEDUCATOR II microscope of NT-MDT company was included in the list of 100 best world scientific-engineering developments. It was the only Russian development among winners of 2011. (Among the winners there was an electric flashlight, fax, instant photo, plaster for giving up smoking, high-definition TV).
International Recognition, Enthusiasm and Government Support International Recognition, Enthusiasm and Government Support
On June 23, 2011 American journal R&D declared results of R&D 100 Award competition. NANOEDUCATOR II microscope of NT-MDT company was included in the list of 100 best world scientific-engineering developments. It was the only Russian development among winners of 2011. (Among the winners there was an electric flashlight, fax, instant photo, plaster for giving up smoking, high-definition TV).
В.Быков
Международное признание, энтузиазм и государственная поддержка 23 июня 2011 г. американский журнал R&D объявил результаты конкурса R&D 100 Award. В список 100 лучших мировых разработок попал микроскоп НАНОЭДЬЮКАТОР II компании НТ-МДТ – единственная российская разработка – лауреат 2011 года. Среди обладателей награды были электрическая фотовспышка, факс, моментальная фотография, телевидение высокой четкости.
Международное признание, энтузиазм и государственная поддержка 23 июня 2011 г. американский журнал R&D объявил результаты конкурса R&D 100 Award. В список 100 лучших мировых разработок попал микроскоп НАНОЭДЬЮКАТОР II компании НТ-МДТ – единственная российская разработка – лауреат 2011 года. Среди обладателей награды были электрическая фотовспышка, факс, моментальная фотография, телевидение высокой четкости.
Issues of patenting
Вопросы патентования
D.Sokolov
Learning Inventions from the Nature A number of processes in the Nature can be interpreted in terms of invention acts. A methodology of drafting patent claims using this interpretation to facilitate revealing non-trivial inventing results from an existing design is proposed.
Learning Inventions from the Nature A number of processes in the Nature can be interpreted in terms of invention acts. A methodology of drafting patent claims using this interpretation to facilitate revealing non-trivial inventing results from an existing design is proposed.
Д.Соколов
Учимся изобретать у природы Рассмотрены природные процессы, как изобретения. Показано, как можно составлять на них формулы, что поможет исследователям выявлять неожиданные изобретения в своих разработках.
Учимся изобретать у природы Рассмотрены природные процессы, как изобретения. Показано, как можно составлять на них формулы, что поможет исследователям выявлять неожиданные изобретения в своих разработках.
Стандартизация
S. Hohlyavin
What Will Be the Standards for Nanoelectronics? The particle “nano” has become an indicator of a technology innovative character, though it only describes the measurement scale. Nanotechnology for eclectronics is mass production of instruments and integrated circuits with the elements minimal sizes from 100 to 1 nm, which allows for production of efficient devices with costs moderate. An overview of projects of standards developed by the third Working group of Technical committee IEC/TC113 and Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) is presented. The main objective of the international standardization is to transfer innovations in nanoelectronics from research laboratories to the information and telecommunication market
What Will Be the Standards for Nanoelectronics? The particle “nano” has become an indicator of a technology innovative character, though it only describes the measurement scale. Nanotechnology for eclectronics is mass production of instruments and integrated circuits with the elements minimal sizes from 100 to 1 nm, which allows for production of efficient devices with costs moderate. An overview of projects of standards developed by the third Working group of Technical committee IEC/TC113 and Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) is presented. The main objective of the international standardization is to transfer innovations in nanoelectronics from research laboratories to the information and telecommunication market
С.Хохлявин
Какими будут стандарты для наноэлектроники? Нано – показатель инновационности технологий. Нанотехнологии для электроники – это массовое производство приборов и интегральных схем с минимальными размерами элементов от 100 до 1 нм, что позволяет изготавливать современные высокоэффективные устройства при экономии средств. Представлен краткий обзор проектов стандартов Технического комитета МЭК/ТК 113 и Института инженеров электротехники и электроники. Основная цель международной стандартизации – перенести инновации в наноэлектронике из научно-исследовательских лабораторий на информационный и телекоммуникационный рынки.
Какими будут стандарты для наноэлектроники? Нано – показатель инновационности технологий. Нанотехнологии для электроники – это массовое производство приборов и интегральных схем с минимальными размерами элементов от 100 до 1 нм, что позволяет изготавливать современные высокоэффективные устройства при экономии средств. Представлен краткий обзор проектов стандартов Технического комитета МЭК/ТК 113 и Института инженеров электротехники и электроники. Основная цель международной стандартизации – перенести инновации в наноэлектронике из научно-исследовательских лабораторий на информационный и телекоммуникационный рынки.