Открытые инновации
3D-интеграция в микроэлектронике
Экспресс-диагностика патогенов
Генеральный директор ФБУ "Тест-С.-Петербург" академик РАН В.В.Окрепилов о стандартизации и метрологии при обеспечении безопасности продукции наноиндустрии