Открытые инновации
3D-интеграция в микроэлектронике
Экспресс-диагностика патогенов
Генеральный директор ФБУ "Тест-С.-Петербург" академик РАН В.В.Окрепилов о стандартизации и метрологии при обеспечении безопасности продукции наноиндустрии

sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по нанотехнологиям
Суминов И.В.,Белкин П.Н., Эпельфельд А.В., Людин В.Б., Крит Б.Л., Борисов A.M.
Герасименко Н.Н., Пархоменко Ю.Н.
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Выпуск #7/2013
Открытые инновации
3D-интеграция в микроэлектронике
Экспресс-диагностика патогенов
Генеральный директор ФБУ "Тест-С.-Петербург" академик РАН В.В.Окрепилов о стандартизации и метрологии при обеспечении безопасности продукции наноиндустрии
Аннотации статей
Table of Contents
Содержание
Competent opinion
Компетентное мнение
Industrial nanotechnologies
Промышленные нанотехнологии
Test & Measurement
Контроль и измерения
Conferences, Exhibitions, Seminars
Конференции, выставки, семинары
Разработка: студия Green Art