eng
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
Competent opinion
Компетентное мнение
V.Okrepilov
Standardization and Metrology to Ensure Safety of Products of Nanoindustry The increasing role of innovations and development of high technologies are the key factors of the national economy. One of the leading roles belongs to nanotechnologies, but its development requires addressing issues of standardization and metrology. Considering the state and degree of development of nanotechnologies and manufacture of nanoproducts in Russia, the importance of standardization is obvious, because without introduction of nanoproducts in the market will be impossible
Standardization and Metrology to Ensure Safety of Products of Nanoindustry The increasing role of innovations and development of high technologies are the key factors of the national economy. One of the leading roles belongs to nanotechnologies, but its development requires addressing issues of standardization and metrology. Considering the state and degree of development of nanotechnologies and manufacture of nanoproducts in Russia, the importance of standardization is obvious, because without introduction of nanoproducts in the market will be impossible
В.Окрепилов
Стандартизация и метрология в обеспечении безопасности продукции наноиндустрии Повышение роли инноваций и темпов развития высоких технологий – ключевые факторы структурных сдвигов в экономике страны. В этом процессе одна из ведущих ролей принадлежит нанотехнологиям, однако развитие последних требует решения проблем стандартизации и метрологии. Учитывая состояние и степень развития нанотехнологий и производства нанопродукции в России, очевидна важность стандартизации, без которой выход нанопродукции на рынок будет закрыт.
Стандартизация и метрология в обеспечении безопасности продукции наноиндустрии Повышение роли инноваций и темпов развития высоких технологий – ключевые факторы структурных сдвигов в экономике страны. В этом процессе одна из ведущих ролей принадлежит нанотехнологиям, однако развитие последних требует решения проблем стандартизации и метрологии. Учитывая состояние и степень развития нанотехнологий и производства нанопродукции в России, очевидна важность стандартизации, без которой выход нанопродукции на рынок будет закрыт.
Теги: nanomaterials safety of nanoproduction standardization and metrology инновации международное сотрудничество нанотехнологические центры развитие регионов
Industrial nanotechnologies
Промышленные нанотехнологии
V.Tyulpanov, A.Vasilyev
Assemblage of Integrated Circuits by 3D-integration Technology One of the main trends in microelectronics is diminution of the dimensions of products with a simultaneous increase of their productivity and functionality. This task is being successfully solved by the method of a 3D arrangement of the constituent elements of the integrated circuits. The most intensively developed methods of 3D-integration, which means assemblage of products, beginning from semiconductor wafers – 3D-WLSiP up to the stage of packing of crystals in a case. The modern technologies allow us to fix crystals on a wafer and wafers to each other, obtaining a finished product even before partition of the wafers
into separate crystals.
Assemblage of Integrated Circuits by 3D-integration Technology One of the main trends in microelectronics is diminution of the dimensions of products with a simultaneous increase of their productivity and functionality. This task is being successfully solved by the method of a 3D arrangement of the constituent elements of the integrated circuits. The most intensively developed methods of 3D-integration, which means assemblage of products, beginning from semiconductor wafers – 3D-WLSiP up to the stage of packing of crystals in a case. The modern technologies allow us to fix crystals on a wafer and wafers to each other, obtaining a finished product even before partition of the wafers
into separate crystals.
В.Тюльпанов, А.Васильев
Сборка интегральных схем по технологии 3D-интеграции Одной из основных тенденций в микроэлектронике является уменьшение габаритов изделий при одновременном повышении их производительности и функциональности. Для решения этой задачи успешно применяются методики трехмерной компоновки составных элементов интегральных схем. Наиболее интенсивно развиваются методы 3D-интеграции, которая заключается в сборке изделий, начиная с полупроводниковых пластин 3D-WLSiP до стадии упаковки кристаллов в корпус. Современные технологии позволяют монтировать кристаллы на пластину и пластины между собой, получая готовое изделие даже до разделения пластин на отдельные кристаллы.
Сборка интегральных схем по технологии 3D-интеграции Одной из основных тенденций в микроэлектронике является уменьшение габаритов изделий при одновременном повышении их производительности и функциональности. Для решения этой задачи успешно применяются методики трехмерной компоновки составных элементов интегральных схем. Наиболее интенсивно развиваются методы 3D-интеграции, которая заключается в сборке изделий, начиная с полупроводниковых пластин 3D-WLSiP до стадии упаковки кристаллов в корпус. Современные технологии позволяют монтировать кристаллы на пластину и пластины между собой, получая готовое изделие даже до разделения пластин на отдельные кристаллы.
Теги: 3d arrangement 3d-integration 3d-интеграция integrated circuits интегральные схемы трехмерная компоновка
Test & Measurement
Контроль и измерения
T.Zimina, V.Luchininv
Lab-on-a-Chip. Microbiological Express Diagnostics of Pathogenic Bacteria Microbiological express diagnostics, including determination of sensitivity of bacteria to antibiotics, is very topical because of the growing number and prevalence of the bacterial infections. This article presents the basic principles and proposals concerning the development of microsized systems of microbiological express diagnostics, which ensure cultivation, analysis and estimation of antibioticresistance of the colonies of pathogenic bacteria. Such systems create the preconditions for a successful fight against the spread of resistant strains of bacteria, the definition of the type and the choice of effective therapy.
Lab-on-a-Chip. Microbiological Express Diagnostics of Pathogenic Bacteria Microbiological express diagnostics, including determination of sensitivity of bacteria to antibiotics, is very topical because of the growing number and prevalence of the bacterial infections. This article presents the basic principles and proposals concerning the development of microsized systems of microbiological express diagnostics, which ensure cultivation, analysis and estimation of antibioticresistance of the colonies of pathogenic bacteria. Such systems create the preconditions for a successful fight against the spread of resistant strains of bacteria, the definition of the type and the choice of effective therapy.
Т.Зимина, В.Лучинин
"Лаборатория на чипе". Микробиологическая экспресс-диагностика патогенных бактерий Микробиологическая экспресс-диагностика актуальна в связи с ростом числа бактериальных инфекций. В настоящей статье представлены базовые принципы и предложения по созданию автоматических портативных устройств микробиологической экспресс-диагностики, которые обеспечивают выращивание, анализ и оценку антибиотикорезистентности колоний патогенных бактерий. Подобные системы создают предпосылки к успешной борьбе с распространением устойчивых штаммов бактерий, определению их вида и выбору эффективной терапии.
"Лаборатория на чипе". Микробиологическая экспресс-диагностика патогенных бактерий Микробиологическая экспресс-диагностика актуальна в связи с ростом числа бактериальных инфекций. В настоящей статье представлены базовые принципы и предложения по созданию автоматических портативных устройств микробиологической экспресс-диагностики, которые обеспечивают выращивание, анализ и оценку антибиотикорезистентности колоний патогенных бактерий. Подобные системы создают предпосылки к успешной борьбе с распространением устойчивых штаммов бактерий, определению их вида и выбору эффективной терапии.
Теги: microbiological analysis pathogenic bacteria portable diagnostic systems микробиологический анализ патогенные бактерии портативные диагностические системы
A.Useinov, K.Kravchuk, I.Maslenikov
Indentation. Measurement of Hardness and Fracture Toughness of Solid Coatings Properties of the diamond-like films of carbon – epitaxial layers of micro- and nanocrystal diamonds, and also amorphous films of carbon depend on the composition and structure, and may vary over a wide range. Diamond-like carbon coatings possess a number of unique properties: high hardness and wear resistance, low factor of friction, and corrosion resistance. Interest to the heterostructures of the diamond-like films of carbon is determined by the prospects of their use as protecting and hardening coatings for the micro- and nanoelectromechanical systems. The authors discuss the ways to determine the mechanical characteristics of thin-film coatings with application of indentation and sclerometry, and compare the adequacy of various models for estimation of the results of measurements.
Indentation. Measurement of Hardness and Fracture Toughness of Solid Coatings Properties of the diamond-like films of carbon – epitaxial layers of micro- and nanocrystal diamonds, and also amorphous films of carbon depend on the composition and structure, and may vary over a wide range. Diamond-like carbon coatings possess a number of unique properties: high hardness and wear resistance, low factor of friction, and corrosion resistance. Interest to the heterostructures of the diamond-like films of carbon is determined by the prospects of their use as protecting and hardening coatings for the micro- and nanoelectromechanical systems. The authors discuss the ways to determine the mechanical characteristics of thin-film coatings with application of indentation and sclerometry, and compare the adequacy of various models for estimation of the results of measurements.
А.Усеинов, К.Кравчук, И.Маслеников
Индентирование. Измерение твердости и трещиностойкости покрытий Свойства алмазоподобных пленок углерода – эпитаксиальных слоев микро- и нанокристаллического алмаза, а также аморфных пленок углерода зависят от состава и структуры и могут изменяться в широких пределах. Алмазоподобные углеродные покрытия обладают рядом уникальных свойств: высокой твердостью и износостойкостью, низким коэффициентом трения, коррозионной стойкостью. Интерес к гетероструктурам алмазоподобных пленок углерода обусловлен перспективами использования их в качестве защитных и упрочняющих покрытий микро- и наноэлектромеханических систем. В статье рассматриваются способы определения механических характеристик тонкопленочных покрытий с применением индентирования и склерометрии. Выполнено сравнение адекватности различных моделей для оценки результатов измерений.
Индентирование. Измерение твердости и трещиностойкости покрытий Свойства алмазоподобных пленок углерода – эпитаксиальных слоев микро- и нанокристаллического алмаза, а также аморфных пленок углерода зависят от состава и структуры и могут изменяться в широких пределах. Алмазоподобные углеродные покрытия обладают рядом уникальных свойств: высокой твердостью и износостойкостью, низким коэффициентом трения, коррозионной стойкостью. Интерес к гетероструктурам алмазоподобных пленок углерода обусловлен перспективами использования их в качестве защитных и упрочняющих покрытий микро- и наноэлектромеханических систем. В статье рассматриваются способы определения механических характеристик тонкопленочных покрытий с применением индентирования и склерометрии. Выполнено сравнение адекватности различных моделей для оценки результатов измерений.
Теги: diamond-like carbon indentation sclerometry thin film coating алмазоподобные углероды индентирование склерометрия тонкопленочное покрытие
Th.Dieingv
Конфокальная рамановская 3D-визуализация высокого разрешения нитридов III группы The quality and reliability of electronic components are high because it is important to obtain detailed information on the properties of the crystal structures of semiconductor materials. X-ray diffraction is commonly used in order to probe film thicknesses, lattice constants and strain states of layer structures and scanning electron microscopy is used to inspect surfaces and defects in the structure to understand the growth history. In this application note results are presented of 3D confocal Raman imaging measurements that reveal changes in the signal which can be attributed to strain as well as to changes
in the lattice structure.
Конфокальная рамановская 3D-визуализация высокого разрешения нитридов III группы The quality and reliability of electronic components are high because it is important to obtain detailed information on the properties of the crystal structures of semiconductor materials. X-ray diffraction is commonly used in order to probe film thicknesses, lattice constants and strain states of layer structures and scanning electron microscopy is used to inspect surfaces and defects in the structure to understand the growth history. In this application note results are presented of 3D confocal Raman imaging measurements that reveal changes in the signal which can be attributed to strain as well as to changes
in the lattice structure.
Th.Dieingv
Конфокальная рамановская 3D-визуализация высокого разрешения нитридов III группы Требования к надежности электронных компонентов высоки, потому важно получение детальных сведений о свойствах кристаллических структур полупроводниковых материалов. Обычно для определения толщины пленок, параметров кристаллической решетки и испытаний деформированных состояний слоистых структур применяется рентгеновская дифракция, а для исследования поверхностей и дефектов конструкции, позволяющих установить хронологию роста кристаллов, – растровая электронная микроскопия. В статье представлены результаты исследований методом конфокальной рамановской 3D-визуализации, который позволяет выявлять деформацию и изменения в структуре кристаллической решетки.
Конфокальная рамановская 3D-визуализация высокого разрешения нитридов III группы Требования к надежности электронных компонентов высоки, потому важно получение детальных сведений о свойствах кристаллических структур полупроводниковых материалов. Обычно для определения толщины пленок, параметров кристаллической решетки и испытаний деформированных состояний слоистых структур применяется рентгеновская дифракция, а для исследования поверхностей и дефектов конструкции, позволяющих установить хронологию роста кристаллов, – растровая электронная микроскопия. В статье представлены результаты исследований методом конфокальной рамановской 3D-визуализации, который позволяет выявлять деформацию и изменения в структуре кристаллической решетки.
Теги: crystal lattice parameters gallium nitride raman spectroscopy нитрид галлияи параметры кристаллической решетки рамановская спектроскопия
Conferences, Exhibitions, Seminars
Конференции, выставки, семинары
D.Gudilin
In a Kaleidoscope of Innovation Moscow International Forum "Open Innovations" and exhibition Open Innovations Expo is a brand identity of the Russian economy, so the guests of the forum became Russian and foreign high-level government officials. This year, the exposition booths were mostly subjects of the federation, state corporations, state-owned companies and government ministries. In total, the forum and the exhibition was attended by more than 500 companies that have demonstrated more than 1000 technological developments.
In a Kaleidoscope of Innovation Moscow International Forum "Open Innovations" and exhibition Open Innovations Expo is a brand identity of the Russian economy, so the guests of the forum became Russian and foreign high-level government officials. This year, the exposition booths were mostly subjects of the federation, state corporations, state-owned companies and government ministries. In total, the forum and the exhibition was attended by more than 500 companies that have demonstrated more than 1000 technological developments.
Д.Гудилин
В калейдоскопе инноваций Международный форум "Открытые инновации" и выставка Open Innovations Expo – своего рода визитная карточка российской экономики, поэтому гостями и участниками форума становятся российские и иностранные госчиновники высшего уровня. В этом году экспозицию выставки составили преимущественно стенды субъектов Федерации, госкорпораций, компаний с государственным участием и министерств. В форуме и выставке приняли участие более 500 компаний, продемонстрировавших свыше 1000 технологических разработок.
В калейдоскопе инноваций Международный форум "Открытые инновации" и выставка Open Innovations Expo – своего рода визитная карточка российской экономики, поэтому гостями и участниками форума становятся российские и иностранные госчиновники высшего уровня. В этом году экспозицию выставки составили преимущественно стенды субъектов Федерации, госкорпораций, компаний с государственным участием и министерств. В форуме и выставке приняли участие более 500 компаний, продемонстрировавших свыше 1000 технологических разработок.
Теги: innovations international cooperation nanotechnology regional development инновации международное сотрудничество нанотехнологические центры развитие регионов
D.Georgiev
Marketing of Innovations: Challenges and Prospects Innovative products are characterized by complexity on market due to of its novelty, and often uniqueness. The marketing changes the advanced development into the product in high demand by consumers, and startup – into a successful company. To discuss the challenges the promotion of innovative products to the market the Committee on development of innovative economy of association of managers jointly with the NP "The Council of Heads of associations and leaders of innovation business" organized a talk show "Marketing of Innovations VS innovative marketing. Game of definitions or a new word in promoting of innovative products"
Marketing of Innovations: Challenges and Prospects Innovative products are characterized by complexity on market due to of its novelty, and often uniqueness. The marketing changes the advanced development into the product in high demand by consumers, and startup – into a successful company. To discuss the challenges the promotion of innovative products to the market the Committee on development of innovative economy of association of managers jointly with the NP "The Council of Heads of associations and leaders of innovation business" organized a talk show "Marketing of Innovations VS innovative marketing. Game of definitions or a new word in promoting of innovative products"
Д.Георгиев
Маркетинг инноваций: проблемы и перспективы Инновационные продукты характеризуются сложностью продвижения на рынок в силу новизны и уникальности. При этом именно грамотный маркетинг превращает перспективную разработку в востребованный потребителями продукт, а стартап – в успешную компанию. Чтобы обсудить проблемы продвижения инновационных продуктов на рынок, комитет по развитию инновационной экономики Ассоциации менеджеров совместно с НП "Совет глав ассоциаций и лидеров инновационного бизнеса" организовал ток-шоу "Маркетинг инноваций vs Инновационный маркетинг. Игра определений или новое слово в продвижении инновационного продукта?".
Маркетинг инноваций: проблемы и перспективы Инновационные продукты характеризуются сложностью продвижения на рынок в силу новизны и уникальности. При этом именно грамотный маркетинг превращает перспективную разработку в востребованный потребителями продукт, а стартап – в успешную компанию. Чтобы обсудить проблемы продвижения инновационных продуктов на рынок, комитет по развитию инновационной экономики Ассоциации менеджеров совместно с НП "Совет глав ассоциаций и лидеров инновационного бизнеса" организовал ток-шоу "Маркетинг инноваций vs Инновационный маркетинг. Игра определений или новое слово в продвижении инновационного продукта?".