eng
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
Competent opinion
Компетентное мнение
В.Быков
Российский лидер мирового научного приборостроения DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.6.10
Российский лидер мирового научного приборостроения DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.6.10
И.Кучерявый
Интернет вещей: самое интересное только начинается! DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.12.20
Интернет вещей: самое интересное только начинается! DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.12.20
А.Краатц
Системы подачи чистых жидкостей и газов для высокотехнологичных отраслей DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.22.25
Системы подачи чистых жидкостей и газов для высокотехнологичных отраслей DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.22.25
Й.В.Ларсен
Модульное оборудование для нанесения тонкопленочных покрытий DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.26.28
Модульное оборудование для нанесения тонкопленочных покрытий DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.26.28
Nanotechnology
Нанотехнологии
B.Pavlov
High-efficient nanotechnology and equipment for environmental recycling and water treatment Up-to-date developments of Russian companies and their foreign partners allow to bring to market high-performance equipment for processing of all types of waste and water treatment based on nanotechnologies and nanomaterials. This equipment, combined with smart technology, allow to create the highly competitive cognitive systems that meet environmental requirements of the Russian legislation.
High-efficient nanotechnology and equipment for environmental recycling and water treatment Up-to-date developments of Russian companies and their foreign partners allow to bring to market high-performance equipment for processing of all types of waste and water treatment based on nanotechnologies and nanomaterials. This equipment, combined with smart technology, allow to create the highly competitive cognitive systems that meet environmental requirements of the Russian legislation.
Б.Павлов
Высокоэффективные нанотехнологии и оборудование в сфере экологической переработки отходов и очистки воды Разработки российских компаний и их зарубежных партнеров позволяют создавать высокоэффективное оборудование по переработке всех видов отходов и очистке воды, созданное на основе нанотехнологий и наноматериалов. Данное оборудование позволяет создавать высококонкурентные когнитивные системы, отвечающие экологическим требованиям российского законодательства.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.76.87
Высокоэффективные нанотехнологии и оборудование в сфере экологической переработки отходов и очистки воды Разработки российских компаний и их зарубежных партнеров позволяют создавать высокоэффективное оборудование по переработке всех видов отходов и очистке воды, созданное на основе нанотехнологий и наноматериалов. Данное оборудование позволяет создавать высококонкурентные когнитивные системы, отвечающие экологическим требованиям российского законодательства.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.76.87
Теги: electrochemical activation high temperature melting-gasification waste treatment высокотемпературная плавящая газификация переработка отходов электрохимическая активация
D.Koptsev, O.Kuznetsova, N.Shelepin
Low noise amplifier based on 0.18 µm silicon-on-insulator technology Experimental study of implementation of the LNA based on 0.18 µm CMOS SOI technology is conducted. The advantages of the SOI technology for the manufacture of microwave IC are discussed. LNA with six levels of aluminum metallization, has been designed and manufactured using CMOS SOI technology.
Low noise amplifier based on 0.18 µm silicon-on-insulator technology Experimental study of implementation of the LNA based on 0.18 µm CMOS SOI technology is conducted. The advantages of the SOI technology for the manufacture of microwave IC are discussed. LNA with six levels of aluminum metallization, has been designed and manufactured using CMOS SOI technology.
Д.Копцев, О.Кузнецова, Н.Шелепин
Малошумящий усилитель по технологии кремний-на-изоляторе с топологическими нормами 0,18 мкм Проведено экспериментальное исследование возможности реализации МШУ на основе КМОП КНИ-технологии с нормами 0,18 мкм. Рассматриваются преимущества КНИ-технологии для изготовления СВЧ ИС. Разработан и изготовлен МШУ с использованием КМОП КНИ-технологии, имеющей шесть уровней алюминиевой металлизации.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.88.94
Малошумящий усилитель по технологии кремний-на-изоляторе с топологическими нормами 0,18 мкм Проведено экспериментальное исследование возможности реализации МШУ на основе КМОП КНИ-технологии с нормами 0,18 мкм. Рассматриваются преимущества КНИ-технологии для изготовления СВЧ ИС. Разработан и изготовлен МШУ с использованием КМОП КНИ-технологии, имеющей шесть уровней алюминиевой металлизации.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.88.94
V.Gurevich, O.Rozental
Optimization of water treatment for nanotechnology industry The paper describes the technique of reducing production losses related to the variability and uncertainties in the instrumental evaluation of controllable parameters of water.
Optimization of water treatment for nanotechnology industry The paper describes the technique of reducing production losses related to the variability and uncertainties in the instrumental evaluation of controllable parameters of water.
В.Гуревич, О.Розенталь
Оптимизация режимов водоподготовки для наноиндустрии В работе предложена методика снижения производственных потерь, связанных с вариабельностью и неточностью инструментальной оценки контролируемых показателей воды.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.96.101
Оптимизация режимов водоподготовки для наноиндустрии В работе предложена методика снижения производственных потерь, связанных с вариабельностью и неточностью инструментальной оценки контролируемых показателей воды.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.96.101
Test & Measurement
Контроль и измерения
A.Akhmetova, I.Yaminsky
Early detection of viruses and bacteria using methods of nanotechnology Modern nanotechnology opens up new effective ways of early detection of viral and bacterial infections. This paper presents two related methods based on the use of scanning probe microscopes and piezoelectric biochips.
Early detection of viruses and bacteria using methods of nanotechnology Modern nanotechnology opens up new effective ways of early detection of viral and bacterial infections. This paper presents two related methods based on the use of scanning probe microscopes and piezoelectric biochips.
А.Ахметова, И.Яминский
Раннее обнаружение вирусов и бактерий с использованием методов нанотехнологий Нанотехнологии открывают новые пути раннего обнаружения вирусных и бактериальных инфекций. Представлены два родственных метода, основанных на применении сканирующих зондовых микроскопов и пьезокерамических биочипов.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.70.74
Раннее обнаружение вирусов и бактерий с использованием методов нанотехнологий Нанотехнологии открывают новые пути раннего обнаружения вирусных и бактериальных инфекций. Представлены два родственных метода, основанных на применении сканирующих зондовых микроскопов и пьезокерамических биочипов.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.70.74
Теги: biochip flow-through liquid cell scanning probe microscopy биочип проточная жидкостная ячейка сканирующий зондовый микроскоп
Military and space technology
Военные и космические технологии
E.Kuznetsov, A.Saurov
Hardware Trojans. Part3: methods for prevention and detection In the third part of a series of articles devoted to Hardware Trojans the most effective methods to prevent and to detect them are considered.
Hardware Trojans. Part3: methods for prevention and detection In the third part of a series of articles devoted to Hardware Trojans the most effective methods to prevent and to detect them are considered.
Е.Кузнецов, А.Сауров
Аппаратные трояны. Часть 3: способы предупреждения и обнаружения В третьей части цикла обзорных статей рассмотрены наиболее действенные способы предупреждения и обнаружения аппаратных закладок в интегральных схемах – аппаратных троянов.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.30.40
Аппаратные трояны. Часть 3: способы предупреждения и обнаружения В третьей части цикла обзорных статей рассмотрены наиболее действенные способы предупреждения и обнаружения аппаратных закладок в интегральных схемах – аппаратных троянов.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.30.40
Теги: hardware backdoor hardware trojan integrated circuit аппаратная закладка аппаратный троян интегральная схема кибербезопасность
P.Volobuev
Frequency synthesizer for 5521 gate array family A frequency synthesizer IP core for 5521 gate array family is described. The functional structure
of the IP core, the design and performance concepts of certain sub blocks are presented.
Frequency synthesizer for 5521 gate array family A frequency synthesizer IP core for 5521 gate array family is described. The functional structure
of the IP core, the design and performance concepts of certain sub blocks are presented.
П.Волобуев
Синтезатор частот для базового кристалла серии 5521 Рассмотрен сложно-функциональный блок синтезатора частот, который предназначен для применения в составе микросхем, разрабатываемых на основе базовых кристаллов серии 5521. Описана его структура, особенности отдельных функциональных блоков.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.42.49
Синтезатор частот для базового кристалла серии 5521 Рассмотрен сложно-функциональный блок синтезатора частот, который предназначен для применения в составе микросхем, разрабатываемых на основе базовых кристаллов серии 5521. Описана его структура, особенности отдельных функциональных блоков.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.42.49
Теги: cф-блок frequency synthesizer gate array ip core phase-locked loop базовый кристалл синтезатор частот фазовая автоподстройка частоты
Yu.Moskovskaya
Common methodological approach to evaluation of radiation resistance of gate arrays and semicustom very large scale ICs based on them The common methodological approach to the evaluation of radiation resistance of gate arrays and semicustom very large scale ICs based on them is developed and substantiated. The main features of ICs based on the gate arrays in relation to the objectives of ensuring and evaluation of their radiation resistance are analyzed, the dominant radiation effects in ICs are summarized.
Common methodological approach to evaluation of radiation resistance of gate arrays and semicustom very large scale ICs based on them The common methodological approach to the evaluation of radiation resistance of gate arrays and semicustom very large scale ICs based on them is developed and substantiated. The main features of ICs based on the gate arrays in relation to the objectives of ensuring and evaluation of their radiation resistance are analyzed, the dominant radiation effects in ICs are summarized.
Ю.Московская
Общий методический подход к оценке радиационной стойкости БМК и полузаказных БИС на их основе Разработан и обоснован общий методический подход к оценке радиационной стойкости БМК и полузаказных БИС на их основе. Проанализированы основные особенности БИС на БМК в части задач обеспечения и оценки их радиационной стойкости, обобщены доминирующие радиационные эффекты в БИС на БМК.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.50.59
Общий методический подход к оценке радиационной стойкости БМК и полузаказных БИС на их основе Разработан и обоснован общий методический подход к оценке радиационной стойкости БМК и полузаказных БИС на их основе. Проанализированы основные особенности БИС на БМК в части задач обеспечения и оценки их радиационной стойкости, обобщены доминирующие радиационные эффекты в БИС на БМК.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.50.59
Теги: gate array integrated circuit radiation resistance базовый кристалл интегральная схема радиационная стойкость
Yu.Moskovskaya, R.Fedorov, A.Denisov, D.Bobrovskiy, A.Ulanova, A.Nikiforov
Composition and principle of formation of standard evaluation circuit as simulator of gate arrays and semicustom very large scale IC based on them for radiation tests The paper analyzes the main features and shortcomings of the existing system for ensuring radiation resistance of very large scale ICs based on gate arrays through the development and testing of the generic evaluation circuit (GEC). It is proposed to include all of the basic library elements into the structure of GEC. It is also proposed to maximally unify the GEC for characterization of gate arrays and control of batches of wafers, analysis of features of control of technology stability and estimation of radiation resistance of the working firmware based on test results of GEC.
Composition and principle of formation of standard evaluation circuit as simulator of gate arrays and semicustom very large scale IC based on them for radiation tests The paper analyzes the main features and shortcomings of the existing system for ensuring radiation resistance of very large scale ICs based on gate arrays through the development and testing of the generic evaluation circuit (GEC). It is proposed to include all of the basic library elements into the structure of GEC. It is also proposed to maximally unify the GEC for characterization of gate arrays and control of batches of wafers, analysis of features of control of technology stability and estimation of radiation resistance of the working firmware based on test results of GEC.
Ю.Московская, Р.Федоров, А.Денисов, Д.Бобровский, А.Уланова, А.Никифоров
Состав и принцип формирования типовой оценочной схемы как имитатора БМК и полузаказных БИС на их основе для задач радиационных испытаний Проанализированы основные особенности и недостатки существующей системы обеспечения требований радиационной стойкости для полузаказных БИС на основе БМК путем разработки и испытаний типовой оценочной схемы (ТОС). Предложено включать в состав ТОС все базовые библиотечные элементы. Предлагается максимально унифицировать ТОС для задач характеризации БМК и контроля партий пластин, анализа особенностей контроля стабильности техпроцесса и оценки радиационной стойкости рабочих зашивок по результатам испытаний ТОС.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.60.69
Состав и принцип формирования типовой оценочной схемы как имитатора БМК и полузаказных БИС на их основе для задач радиационных испытаний Проанализированы основные особенности и недостатки существующей системы обеспечения требований радиационной стойкости для полузаказных БИС на основе БМК путем разработки и испытаний типовой оценочной схемы (ТОС). Предложено включать в состав ТОС все базовые библиотечные элементы. Предлагается максимально унифицировать ТОС для задач характеризации БМК и контроля партий пластин, анализа особенностей контроля стабильности техпроцесса и оценки радиационной стойкости рабочих зашивок по результатам испытаний ТОС.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.60.69
Теги: gate array integrated circuit radiation resistance базовый кристалл интегральная схема радиационная стойкость
Equipment for nanoindustry
Оборудование для наноиндустрии
A.Akhmetova, Yu.Belov, G.Meshkov, I.Yaminsky
3D positioning systems in precise processing of materials The development of scanning probe microscopy has allowed to solve a number of complex tasks of moving and handling of objects with nanometer precision. This possibility is in demand in the modern areas of precision materials processing.
3D positioning systems in precise processing of materials The development of scanning probe microscopy has allowed to solve a number of complex tasks of moving and handling of objects with nanometer precision. This possibility is in demand in the modern areas of precision materials processing.
А.Ахметова, Ю.Белов, Г.Мешков, И.Яминский
Системы 3D-позиционирования в точной обработке материалов Развитие техники сканирующей зондовой микроскопии позволило решить ряд сложных задач по перемещению и обработке объектов с нанометровой точностью. Такая возможность востребована в современных областях прецизионной обработки материалов.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.102.104
Системы 3D-позиционирования в точной обработке материалов Развитие техники сканирующей зондовой микроскопии позволило решить ряд сложных задач по перемещению и обработке объектов с нанометровой точностью. Такая возможность востребована в современных областях прецизионной обработки материалов.
DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.102.104