Карл Хайнц Привассер, генеральный директор европейского подразделения корпорации DISCO, мирового лидера в области решений для утонения и разделения полупроводниковых пластин
Создание электронных компонентов на алмазе
Временное сращивание пластин в производстве МЭМС
Биомедицинская сканирующая зондовая микроскопия

sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Выпуск #2/2018
Карл Хайнц Привассер, генеральный директор европейского подразделения корпорации DISCO, мирового лидера в области решений для утонения и разделения полупроводниковых пластин
Создание электронных компонентов на алмазе
Временное сращивание пластин в производстве МЭМС
Биомедицинская сканирующая зондовая микроскопия
Аннотации статей
Table of Contents
Содержание
Competent opinion
Компетентное мнение
M.Kruse
New developments in field of dicing
М.Крузе
Новые разработки в области разделения кристаллов
T.Lazerand
Innovative plasma-processing systems
Т.Лазеранд
Инновационные плазмохимические системы
S.Kanev
To understand customer is our main principle
С.Канев
Понимать клиента – наш главный принцип
Nanotechnology
Нанотехнологии
D.Wuensch, L.Purwin, L.Biittner, R.Martinka, I.Schubert, R.Junghans, M.Baum, M.Wiemer, T.Otto
Temporary wafer bonding – key technologogy for MEMS devices
Д.Вюнш, Л.Пурвин, Р.Мартинка, И.Шуберт, Р.Юнганс, М.Баум, М.Вимер, Т.Отто
Временное сращивание пластин – ключевая технология для МЭМС-устройств
V.Luchinin
National technological priorities. Diamond extreme electronics
В.Лучинин
Национальные технологические приоритеты. Алмазная экстремальная электроника
Test & Measurement
Контроль и измерения
I.Yaminsky
Routes of biomedical scanning probe microscopy
И.Яминский
Маршруты биомедицинской сканирующей зондовой микроскопии
S.Stepanov, S.Tarasov, A.Petrov, S.Stepanov
Determination of absolute error of M-050-03 electronic level
С.Степанов, С.Тарасов, А.Петров, С.Степанов
Определение предела абсолютной погрешности электронного уровня модели М-050-03
Conferences, Exhibitions, Seminars
Конференции, выставки, семинары
D.Georgiev
Nanoindustry in Moscow: composites, MEMS, medicines
Д.Георгиев
Московская наноиндустрия: композиты, МЭМС, лекарственные препараты
L.Ratkin
Modern industrial nanotechnology for RFID based on silicon and plastic
Л.Раткин
Современные производственные нанотехнологии для RFID на базе кремния и пластика
Education
Образование
B.Loginov
Probe microscopy: new opportunities for universities and schools
Б.Логинов
Зондовая микроскопия: новые возможности для вузов и школ
V.Sharoshchenko
Project and research activity of future teachers of physics in field of nanotechnologies
В.Шарощенко
Проектная и исследовательская деятельность будущих учителей физики в области нанотехнологий
Nanomaterials
Наноматериалы
O.Sinitsyna, A.Ahmetova, G.Meshkov, T.Goncharova, I.Pylev, M.Smirnova, Yu.Belov, I.Yaminsky
Influence of microstructure of graphite precursor on formation of graphite oxide
О.Синицына, А.Ахметова, Г.Мешков, Т.Гончарова, И.Пылев, М.Смирнова, Ю.Белов, И.Яминский
Влияние микроструктуры графита-прекурсора на процесс образования оксида графита
Reportage from laboratory
Репортаж из лаборатории
D.Gudilin
DISCO’s innovations in real production
Д.Гудилин
Инновации DISCO в реальном производстве
D.Gudilin
Traditions and innovations in production of Russian process equipment
Д.Гудилин
Традиции и инновации в производстве российского технологического оборудования
Разработка: студия Green Art