eng
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
Competent opinion
Компетентное мнение
I.A.Rodionov
Records at the light level: how the inventions of Russian scientists lied the basis of the international breakthrough equipment DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.408.412
Future technologies are created in the present. Where are they born? Who creates them? What path does it take to create modern high-tech centers of scientific and engineering thought? Ilya Anatolyevich Rodionov, candidate of technical sciences, director of FMN Laboratory based at Bauman Moscow State Technical University, tells about many of the latest developments and scientific areas, such as plasmonics and nanophotonics, SCULL technology, and the "Russian method" of teaching architects of the future.
Records at the light level: how the inventions of Russian scientists lied the basis of the international breakthrough equipment DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.408.412
Future technologies are created in the present. Where are they born? Who creates them? What path does it take to create modern high-tech centers of scientific and engineering thought? Ilya Anatolyevich Rodionov, candidate of technical sciences, director of FMN Laboratory based at Bauman Moscow State Technical University, tells about many of the latest developments and scientific areas, such as plasmonics and nanophotonics, SCULL technology, and the "Russian method" of teaching architects of the future.
И.А.Родионов
Рекорды на уровне света: как изобретения российских ученых легли в основу международного прорыва DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.408.412
Технологии будущего создаются в настоящем. Где они рождаются? Кто их создает? Какой путь приходится пройти для создания современных высокотехнологичных центров научной и инженерной мысли? О многих новейших разработках и направлениях, таких как плазмоника и нанофотоника, SCULL-технология, о "русском методе" обучения архитекторов будущего рассказывает Илья Анатольевич Родионов, кандидат технических наук, директор НОЦ Функциональные Микро/Наносистемы МГТУ им. Н.Э.Баумана и ФГУП ВНИИА им. Н.Л. Духова.
Рекорды на уровне света: как изобретения российских ученых легли в основу международного прорыва DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.408.412
Технологии будущего создаются в настоящем. Где они рождаются? Кто их создает? Какой путь приходится пройти для создания современных высокотехнологичных центров научной и инженерной мысли? О многих новейших разработках и направлениях, таких как плазмоника и нанофотоника, SCULL-технология, о "русском методе" обучения архитекторов будущего рассказывает Илья Анатольевич Родионов, кандидат технических наук, директор НОЦ Функциональные Микро/Наносистемы МГТУ им. Н.Э.Баумана и ФГУП ВНИИА им. Н.Л. Духова.
I.A.Rod
Role of educational projects in the activities of a modern high-technology company DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.414.418
MAPPER LLC was founded as a subsidiary of the Dutch company MapperLithography. In 2012, 10 process engineers were hired, graduates of Russian universities, who spent 6 months in Holland to learn how to work with high-tech equipment and acquire skills in developing technological processes for the production of MEMS elements. Some of the employees had many years of experience in Europe and America even before their employment at MAPPER LLC. The production of MAPPER LLC was launched in 2014. Since then, the MEMS foundry has been continuously operating and supplying products to its customers. Simultaneously with production activities, the company is intensively developing internship programs and accepting students of technical schools and universities for practical training. Today we present an interview with Rod Irina Andreevna, Manufacturing Director of MAPPER LLC, dedicated to the discussion of the role of the educational programs in the high-tech company's activities, as well as results of the internship implementation.
Role of educational projects in the activities of a modern high-technology company DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.414.418
MAPPER LLC was founded as a subsidiary of the Dutch company MapperLithography. In 2012, 10 process engineers were hired, graduates of Russian universities, who spent 6 months in Holland to learn how to work with high-tech equipment and acquire skills in developing technological processes for the production of MEMS elements. Some of the employees had many years of experience in Europe and America even before their employment at MAPPER LLC. The production of MAPPER LLC was launched in 2014. Since then, the MEMS foundry has been continuously operating and supplying products to its customers. Simultaneously with production activities, the company is intensively developing internship programs and accepting students of technical schools and universities for practical training. Today we present an interview with Rod Irina Andreevna, Manufacturing Director of MAPPER LLC, dedicated to the discussion of the role of the educational programs in the high-tech company's activities, as well as results of the internship implementation.
И.А.Род
Роль образовательных проектов в деятельности современной высокотехнологичной компании DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.414.418
ООО "МАППЕР" было основано как дочернее предприятие голландской компании MapperLithography. В 2012 году были приняты на работу 10 инженеров-технологов, выпускников российских вузов, которые провели шесть месяцев в Голландии с целью обучения работе с высокотехнологичным оборудованием и получения навыков в разработке технологических процессов для производства МЭМС-элементов. Некоторые сотрудники еще до момента их трудоустройства в ООО "МАППЕР" обладали опытом многолетней работы в Европе и Америке. Производство ООО "МАППЕР" было запущено в 2014 году. С тех пор фабрика МЭМС-приборов непрерывно работает, поставляя продукцию своим заказчикам. Параллельно с производственной деятельностью компания интенсивно развивает программы стажировок и принимает студентов техникумов и вузов на производственную практику. О том, насколько необходима эта деятельность высокотехнологичной компании в наше время, а также о результатах развития образовательных программ внутри компании, мы сегодня поговорим с директором по производству ООО "МАППЕР" Род Ириной Андреевной.
Роль образовательных проектов в деятельности современной высокотехнологичной компании DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.414.418
ООО "МАППЕР" было основано как дочернее предприятие голландской компании MapperLithography. В 2012 году были приняты на работу 10 инженеров-технологов, выпускников российских вузов, которые провели шесть месяцев в Голландии с целью обучения работе с высокотехнологичным оборудованием и получения навыков в разработке технологических процессов для производства МЭМС-элементов. Некоторые сотрудники еще до момента их трудоустройства в ООО "МАППЕР" обладали опытом многолетней работы в Европе и Америке. Производство ООО "МАППЕР" было запущено в 2014 году. С тех пор фабрика МЭМС-приборов непрерывно работает, поставляя продукцию своим заказчикам. Параллельно с производственной деятельностью компания интенсивно развивает программы стажировок и принимает студентов техникумов и вузов на производственную практику. О том, насколько необходима эта деятельность высокотехнологичной компании в наше время, а также о результатах развития образовательных программ внутри компании, мы сегодня поговорим с директором по производству ООО "МАППЕР" Род Ириной Андреевной.
Nanotechnology
Нанотехнологии
Z.S.Plieva, T.A.Smirnova, М.V.Zubasheva, Yu.A.Smirnov, V.G.Zhukovitskiy, A.I.Akhmetova, I.V.Yaminskiy
Structure of the bacillus cereus sporules exosporium DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.426.432
In the environment B. cereus bacilli are adapted to the saprophytic lifestyle. Under certain conditions, they can become pathogens for humans and animals. The interest in B. cereus bacilli is due to the fact that they cause diseases of the gastrointestinal tract (GIT), and can also cause septicemia, endocarditis, pneumonia, meningitis, etc. An important stage in the life cycle of B. cereus is sporulation. B. cereus sporules have specific structures that are absent in vegetative cells, and are responsible for such sporule properties as thermal stability, resistance to various damaging factors, adhesion to biotic and abiotic surfaces. The data on the fine structure of the B. cerеus exosporium were obtained using transmission electron microscopy and computer image analysis.
Structure of the bacillus cereus sporules exosporium DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.426.432
In the environment B. cereus bacilli are adapted to the saprophytic lifestyle. Under certain conditions, they can become pathogens for humans and animals. The interest in B. cereus bacilli is due to the fact that they cause diseases of the gastrointestinal tract (GIT), and can also cause septicemia, endocarditis, pneumonia, meningitis, etc. An important stage in the life cycle of B. cereus is sporulation. B. cereus sporules have specific structures that are absent in vegetative cells, and are responsible for such sporule properties as thermal stability, resistance to various damaging factors, adhesion to biotic and abiotic surfaces. The data on the fine structure of the B. cerеus exosporium were obtained using transmission electron microscopy and computer image analysis.
З.С.Плиева, Т.А.Смирнова, М.В.Зубашева, Ю.А.Смирнов, В.Г.Жуховицкий, А.И.Ахметова, И.В.Яминский
Структура экзоспориума спор bacillus cereus DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.426.432
В окружающей среде бациллы B. cereus адаптированы к сапрофитному образу жизни. При определенных условиях они могут стать патогенами для человека и животных. Интерес к бациллам В. cereus связан с тем, что они являются причиной заболеваний желудочно-кишечного тракта (ЖКТ), а также могут вызывать септицемию, эндокардит, пневмонию, менингит и др. Важным этапом жизненного цикла В. cereus является спорообразование. Споры В. cereus имеют специфические структуры, отсутствующие у вегетативных клеток и отвечающие за такие свойства спор, как термоустойчивость, резистентность к различным повреждающим факторам, адгезию к биотическим и абиотическим поверхностям. Получены данные о тонкой структуре экзоспориума B. cerеus с помощью просвечивающей электронной микроскопии и компьютерного анализа изображений.
Структура экзоспориума спор bacillus cereus DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.426.432
В окружающей среде бациллы B. cereus адаптированы к сапрофитному образу жизни. При определенных условиях они могут стать патогенами для человека и животных. Интерес к бациллам В. cereus связан с тем, что они являются причиной заболеваний желудочно-кишечного тракта (ЖКТ), а также могут вызывать септицемию, эндокардит, пневмонию, менингит и др. Важным этапом жизненного цикла В. cereus является спорообразование. Споры В. cereus имеют специфические структуры, отсутствующие у вегетативных клеток и отвечающие за такие свойства спор, как термоустойчивость, резистентность к различным повреждающим факторам, адгезию к биотическим и абиотическим поверхностям. Получены данные о тонкой структуре экзоспориума B. cerеus с помощью просвечивающей электронной микроскопии и компьютерного анализа изображений.
Теги: exosporium microelectronics transmission electron microscopy в. cereus просвечивающая электронная микроскопия экзоспориум
K.S.Kravchuk, I.V.Krasnogorov, A.A.Rusakov, A.S.Useinov
Investigation of surface hardening effect on the local mechanical properties of the cutting tools working edge DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.434.441
In this work the mechanical properties of the punching die cutting edge were investigated by instrumental indentation. The near-surface layer of punching dies is modified in the process of mechanical action with a milling tool and local heating by a laser. Profiles of the hardness on depth have been constructed using the method of automated mapping. It was found that the processing of the tip by local laser heating leads to an increase in the hardness of the alloy by a factor of 1.5 in the region of about 40 μm.
Investigation of surface hardening effect on the local mechanical properties of the cutting tools working edge DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.434.441
In this work the mechanical properties of the punching die cutting edge were investigated by instrumental indentation. The near-surface layer of punching dies is modified in the process of mechanical action with a milling tool and local heating by a laser. Profiles of the hardness on depth have been constructed using the method of automated mapping. It was found that the processing of the tip by local laser heating leads to an increase in the hardness of the alloy by a factor of 1.5 in the region of about 40 μm.
К.С.Кравчук, И.В.Красногоров, А.А.Русаков, А.С.Усеинов
Исследование влияния поверхностного упрочнения на локальные механические свойства режущей кромки обрабатывающего инструмента DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.434.441
В работе методом инструментального индентирования исследовались механические свойства режущей кромки вырубного штампа, модифицированной с помощью механического воздействия фрезерного инструмента и локального нагрева лазером. Построены профили твердости от глубины с помощью метода автоматизированного картографирования. Установлено, что обработка острия локальным нагревом с помощью лазера приводит к увеличению твердости сплава в 1,5 раза в области размером около 40 мкм.
Исследование влияния поверхностного упрочнения на локальные механические свойства режущей кромки обрабатывающего инструмента DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.434.441
В работе методом инструментального индентирования исследовались механические свойства режущей кромки вырубного штампа, модифицированной с помощью механического воздействия фрезерного инструмента и локального нагрева лазером. Построены профили твердости от глубины с помощью метода автоматизированного картографирования. Установлено, что обработка острия локальным нагревом с помощью лазера приводит к увеличению твердости сплава в 1,5 раза в области размером около 40 мкм.
Теги: hardness of the alloy virology local mechanical properties mapping surface hardening effect картографирование локальные механические свойства поверхностное упрочнение твердость сплава
Nanomaterials
Наноматериалы
A.V.Yakuhina, D.V.Gorelov, A.S.Kadochkin, S.S.Generalov, V.V.Amelichev, V.V.Svetukhin
Investigation of the side walls roughness effect of the Si3N4 lightguide layer of different thickness on optical losses in an integral waveguide formed on a quartz substrate DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.450.457
This article presents results of the influence of the side walls roughness of the 100 nm and 200 nm silicon nitride. Calculation of the main parameters of the side walls roughness of the lightguide layer, which have the greatest effect on the optical loss in the waveguide, carried out by finite difference time domain method (FDTD), is presented. Based on this calculation, the optimal thickness of the lightguide layer of nitride was established, allowing the light flow to be retained. Calculation of the model was based on the data obtained during the study of SEM images of manufactured waveguide structures. The results of these calculations are consistent with the data obtained using optical frequency domain reflectometry (OFDR) in the optical backscatter reflectometer (OBR) of manufactured waveguides with a thickness of silicon nitride 200 nm and width of 3 µm and 8 µm.
Investigation of the side walls roughness effect of the Si3N4 lightguide layer of different thickness on optical losses in an integral waveguide formed on a quartz substrate DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.450.457
This article presents results of the influence of the side walls roughness of the 100 nm and 200 nm silicon nitride. Calculation of the main parameters of the side walls roughness of the lightguide layer, which have the greatest effect on the optical loss in the waveguide, carried out by finite difference time domain method (FDTD), is presented. Based on this calculation, the optimal thickness of the lightguide layer of nitride was established, allowing the light flow to be retained. Calculation of the model was based on the data obtained during the study of SEM images of manufactured waveguide structures. The results of these calculations are consistent with the data obtained using optical frequency domain reflectometry (OFDR) in the optical backscatter reflectometer (OBR) of manufactured waveguides with a thickness of silicon nitride 200 nm and width of 3 µm and 8 µm.
А.В.Якухина, Д.В.Горелов, А.С.Кадочкин, С.С.Генералов, В.В.Амеличев, В.В.Светухин
Исследование влияния шероховатости боковых стенок световодного слоя из Si3N4 различной толщины на оптические потери в интегральном волноводе, сформированном на кварцевой подложке DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.450.457
В настоящей статье представлены результаты исследования влияния шероховатости боковых стенок световодного слоя из нитрида кремния толщиной 100 и 200 нм на оптические потери в интегральных волноводах шириной 3 и 8 мкм. Представлен расчет основных параметров шероховатости боковых стенок световодного слоя, оказывающих наибольшее влияние на оптические потери в волноводе, проведенный методом конечных временных разностей. На основании данного расчета была установлена оптимальная толщина световодного слоя из нитрида, позволяющая удерживать световой поток. За основу расчета при построении модели были взяты данные, полученные в ходе исследования РЭМ-снимков, изготовленных волноводных структур. Результаты приведенных расчетов согласуются с данными, полученными в результате исследования посредством рефлектометрии в частотной области рефлектометра обратного рассеяния изготовленных волноводов с толщиной световодного слоя из нитрида кремния 200 нм и шириной 3 и 8 мкм.
Исследование влияния шероховатости боковых стенок световодного слоя из Si3N4 различной толщины на оптические потери в интегральном волноводе, сформированном на кварцевой подложке DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.450.457
В настоящей статье представлены результаты исследования влияния шероховатости боковых стенок световодного слоя из нитрида кремния толщиной 100 и 200 нм на оптические потери в интегральных волноводах шириной 3 и 8 мкм. Представлен расчет основных параметров шероховатости боковых стенок световодного слоя, оказывающих наибольшее влияние на оптические потери в волноводе, проведенный методом конечных временных разностей. На основании данного расчета была установлена оптимальная толщина световодного слоя из нитрида, позволяющая удерживать световой поток. За основу расчета при построении модели были взяты данные, полученные в ходе исследования РЭМ-снимков, изготовленных волноводных структур. Результаты приведенных расчетов согласуются с данными, полученными в результате исследования посредством рефлектометрии в частотной области рефлектометра обратного рассеяния изготовленных волноводов с толщиной световодного слоя из нитрида кремния 200 нм и шириной 3 и 8 мкм.
Теги: integrated optical waveguide structure integrated optics optical loss photonics reflectometry roughness рефлектометрия silicon nitride silicon technology интегральная оптика интегрально-оптические волноводные структуры кремниевая технология нитрид кремния оптические потери фотоника шероховатость
Equipment for nanoindustry
Оборудование для наноиндустрии
Z.S.Plieva, T.A.Smirnova, М.V.Zubasheva, Yu.A.Smirnov, V.G.Zhukovitskiy, A.I.Akhmetova, I.V.Yaminskiy
The structure of the appendages on spores of bacillus cereus DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.458.464
Bacillus cereus is a ubiquitous bacillus species. B. cerеus is known to cause various diseases, mainly associated with damage to the gastrointestinal tract (GIT) with symptoms of diarrhea and vomiting. B. cerеus can be an etiological agent of meningitis, pericarditis, pneumonia, eye diseases which accompanies wound infections. New data on the structure of outgrowths of B. cerеus bacteria are presented on the basis of the experimental data obtained with the aid of the transmission electron microscopy and computer image analysis.
The structure of the appendages on spores of bacillus cereus DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.458.464
Bacillus cereus is a ubiquitous bacillus species. B. cerеus is known to cause various diseases, mainly associated with damage to the gastrointestinal tract (GIT) with symptoms of diarrhea and vomiting. B. cerеus can be an etiological agent of meningitis, pericarditis, pneumonia, eye diseases which accompanies wound infections. New data on the structure of outgrowths of B. cerеus bacteria are presented on the basis of the experimental data obtained with the aid of the transmission electron microscopy and computer image analysis.
З.С.Плиева, Т.А.Смирнова, М.В.Зубашева, Ю.А.Смирнов, В.Г.Жуховицкий, А.И.Ахметова, И.В.Яминский
Структура выростов спор bacillus cereus DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.458.464
Bacillus cereus повсеместно распространенный вид бацилл. Известно, что B. cerеus является причиной различных заболеваний, главным образом связанных с поражением желудочно-кишечного тракта (ЖКТ) с симптомами диареи и рвоты. В. cerеus может быть этиологическим агентом менингита, перикардита, пневмонии, заболевания глаз, сопутствовать раневым инфекциям. Приведены новые данные о структуре выростов бактерий B. cerеus на основании экспериментальных данных, полученных с помощью просвечивающей электронной микроскопии и компьютерного анализа изображений.
Структура выростов спор bacillus cereus DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.458.464
Bacillus cereus повсеместно распространенный вид бацилл. Известно, что B. cerеus является причиной различных заболеваний, главным образом связанных с поражением желудочно-кишечного тракта (ЖКТ) с симптомами диареи и рвоты. В. cerеus может быть этиологическим агентом менингита, перикардита, пневмонии, заболевания глаз, сопутствовать раневым инфекциям. Приведены новые данные о структуре выростов бактерий B. cerеus на основании экспериментальных данных, полученных с помощью просвечивающей электронной микроскопии и компьютерного анализа изображений.
Теги: bacilli bacillus cereus exosporium image analysis споровые выросты morphology spore appendages spores transmission electron microscopy анализ изображений бациллы морфология просвечивающая электронная микроскопия споры экзоспориум
S.Yu.Udovichenko, A.D.Pisarev, A.N.Busygin, A.N.Bobylev
Biomorphous neuroprocessor – prototype of a new generation computer being a carrier of artificial intelligence. Part 1 DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.466.475
A biomorphic neuroprocessor implements a hardware impulse neural network for traditional information processing tasks, as well as for reproducing the work of the cortical column of the brain. The key nodes of the hardware neural network are the memory and logic matrices, developed on the basis of a new component of nanoelectronics –
a combined memristor-diode crossbar, which have a high integration of elements and energy efficiency compared to known neuroprocessors and separate matrices. The concept of a biomorphic neuroprocessor, a description of a neural network built on the basis of an original software model of a neuron and adapted to the hardware of the neuroprocessor, as well as nanotechnology for manufacturing a memristor-diode crossbar and the results of a study of its electrophysical properties are presented.
Biomorphous neuroprocessor – prototype of a new generation computer being a carrier of artificial intelligence. Part 1 DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.466.475
A biomorphic neuroprocessor implements a hardware impulse neural network for traditional information processing tasks, as well as for reproducing the work of the cortical column of the brain. The key nodes of the hardware neural network are the memory and logic matrices, developed on the basis of a new component of nanoelectronics –
a combined memristor-diode crossbar, which have a high integration of elements and energy efficiency compared to known neuroprocessors and separate matrices. The concept of a biomorphic neuroprocessor, a description of a neural network built on the basis of an original software model of a neuron and adapted to the hardware of the neuroprocessor, as well as nanotechnology for manufacturing a memristor-diode crossbar and the results of a study of its electrophysical properties are presented.
С.Ю.Удовиченко, А.Д.Писарев, А.Н.Бусыгин, А.Н.Бобылев
Биоморфный нейропроцессор – прототип компьютера нового поколения, являющегося носителем искусственного интеллекта. Часть 1 DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.466.475
Биоморфный нейропроцессор реализует аппаратную импульсную нейросеть для традиционных задач обработки информации, а также для воспроизведения работы кортикальной колонки мозга. Ключевыми узлами аппаратной нейросети являются запоминающая и логическая матрицы, разработанные на основе нового компонента наноэлектроники – комбинированного мемристорно-диодного кроссбара, обладающие высокой интеграцией элементов и энергоэффективностью по сравнению с известными нейропроцессорами и отдельными матрицами. Представлены концепция биоморфного нейропроцессора, описание нейросети, построенной на основе оригинальной программной модели нейрона и адаптированной к аппаратной части нейропроцессора, а также нанотехнология изготовления мемристорно-диодного кроссбара и результаты исследования его электрофизических свойств.
Биоморфный нейропроцессор – прототип компьютера нового поколения, являющегося носителем искусственного интеллекта. Часть 1 DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.466.475
Биоморфный нейропроцессор реализует аппаратную импульсную нейросеть для традиционных задач обработки информации, а также для воспроизведения работы кортикальной колонки мозга. Ключевыми узлами аппаратной нейросети являются запоминающая и логическая матрицы, разработанные на основе нового компонента наноэлектроники – комбинированного мемристорно-диодного кроссбара, обладающие высокой интеграцией элементов и энергоэффективностью по сравнению с известными нейропроцессорами и отдельными матрицами. Представлены концепция биоморфного нейропроцессора, описание нейросети, построенной на основе оригинальной программной модели нейрона и адаптированной к аппаратной части нейропроцессора, а также нанотехнология изготовления мемристорно-диодного кроссбара и результаты исследования его электрофизических свойств.
Теги: addition and routing of pulses associative self-learning biomorphic neuroprocessor combined memristor-diode crossbar current-voltage characteristic electrical and software biomorphic models of neurons generation of new knowledge hardware neural network magnetron sputtering method memory and logic matrices nanotechnology of fabrication аппаратная нейросеть ассоциативное самообучение биоморфный нейпроцессор вольт-амперная характеристика генерации нового знания запоминающая и логическая матрицы комбинированный мемристорно-диодный кроссбар метод магнетронного распыления нанотехнология изготовления сложение и маршрутизация импульсов электрическая и программная биоморфные модели нейрона
Conferences, Exhibitions, Seminars
Конференции, выставки, семинары
S.B.Nesterov
The best innovative products from "VacuumTechExpo 2020" DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.420.424
The best innovative products presented in tne "VacuumTechExpo 2020" are described here.
The best innovative products from "VacuumTechExpo 2020" DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.420.424
The best innovative products presented in tne "VacuumTechExpo 2020" are described here.
С.Б.Нестеров
Лучшие инновационные продукты выставки "VacuumTechExpo 2020" DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.420.424
Представлено краткое описание лучших инновационных продуктов выставки вакуумного и криогенного оборудования "ВакуумТехЭкспо 2020".
Лучшие инновационные продукты выставки "VacuumTechExpo 2020" DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.420.424
Представлено краткое описание лучших инновационных продуктов выставки вакуумного и криогенного оборудования "ВакуумТехЭкспо 2020".
Nanomaterials
Наноматериалы
A.V.Shvedov, V.M.Elinson, V.I.Kuzkin, V.V.Murnykina
Study of the absorption spectra of fluorocarbon coatings obtained with the aid of a LF-plasmatron at atmospheric pressure DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.442.448
The paper presents the results of studying the absorption spectra of fluorocarbon coatings obtained with the aid of a low-frequency plasmatron of a low-temperature atmospheric pressure plasma. The amplitudes of the absorption peaks are considered and the chemical composition of the coatings is established. The band gap is determined by the Tauz method.
Study of the absorption spectra of fluorocarbon coatings obtained with the aid of a LF-plasmatron at atmospheric pressure DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.442.448
The paper presents the results of studying the absorption spectra of fluorocarbon coatings obtained with the aid of a low-frequency plasmatron of a low-temperature atmospheric pressure plasma. The amplitudes of the absorption peaks are considered and the chemical composition of the coatings is established. The band gap is determined by the Tauz method.
А.В.Шведов, В.М.Елинсон, В.И.Кузькин, В.В.Мурныкина
Исследование спектров поглощения фторуглеродных покрытий, полученных при помощи НЧ-плазмотрона атмосферного давления DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.442.448
В работе представлены результаты исследования спектров поглощения фторуглеродных покрытий, полученных при помощи низкочастотного плазмотрона низкотемпературной плазмы атмосферного давления. Рассмотрены амплитуды пиков поглощения и установлен химический состав покрытий. Определена ширина запрещенной зоны по методу Тауца.
Исследование спектров поглощения фторуглеродных покрытий, полученных при помощи НЧ-плазмотрона атмосферного давления DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.442.448
В работе представлены результаты исследования спектров поглощения фторуглеродных покрытий, полученных при помощи низкочастотного плазмотрона низкотемпературной плазмы атмосферного давления. Рассмотрены амплитуды пиков поглощения и установлен химический состав покрытий. Определена ширина запрещенной зоны по методу Тауца.
Теги: absorption spectra atmospheric pressure arc discharge chemical composition химический состав fluorocarbon coating low temperature plasma plasma treatment дуговой газовый разряд атмосферного давления низкотемпературная плазма плазменная обработка спектры поглощения фторуглеродное покрытие
Annual Issue
Годовое содержание