DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2024.17.3-4.208.218

Наиболее полную информацию о микроструктуре образца можно получить, комбинируя разные виды микроскопии высокого разрешения. Такая комбинация оказывается особенно информативной, если измерения проводятся не просто на одном и том же образце, но и на одной и той же области образца – этот подход называется корреляционной микроскопией. Обычно такие измерения требуют специальной подготовки образца и его перемещения между двумя микроскопами. В данной работе описано использование корреляционной микроскопии, объединяющей сканирующую электронную (СЭМ) и лазерную сканирующую конфокальную (КЛСМ). С помощью этих двух методов исследованы электроформованные волокна желатина, нанесенные на металлизированное стекло. Показана возможность использования корреляционного анализа для совмещения изображений, полученных СЭМ и КЛСМ.