Сканирующая зондовая микроскопия позволяет изучать структуру и свойства объектов на атомном и молекулярном уровнях. Инновационная компания Центр перспективных технологий разработала новый сканирующий зондовый микроскоп, ориентированный на биологические исследования. Отличительными качествами этого микроскопа являются высокоскоростная электроника, свободный доступ в область образца, удобство использования и возможность управления через Интернет.

sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по нанотехнологиям
Герасименко Н.Н., Пархоменко Ю.Н.
Вильнав Ж.-Ж.
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Выпуск #3/2012
А.Филонов, С.Савинов, О.Синицына, Г.Мешков, И.Яминский
ФемтоСкан Х – новый сканирующий зондовый микроскоп
Просмотры: 3030
Сканирующая зондовая микроскопия позволяет изучать структуру и свойства объектов на атомном и молекулярном уровнях. Инновационная компания Центр перспективных технологий разработала новый сканирующий зондовый микроскоп, ориентированный на биологические исследования. Отличительными качествами этого микроскопа являются высокоскоростная электроника, свободный доступ в область образца, удобство использования и возможность управления через Интернет.
Первые работы по СЗМ появились в 80-х годах прошлого века. В 1986 году изобретателям сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) – первого из семейства зондовых микроскопов – была присуждена Нобелевская премия. Это стало мировым признанием новых методов микроскопии, позволяющих увидеть атомное строение материи. Развитие СЗМ привело к созданию нескольких десятков новых методов сканирования поверхности, дающих возможность исследовать топографию, локальные механические, электрические и магнитные свойства образца, проводить литографические процессы.
СЗМ особенно востребована в биологии, поскольку дает уникальную возможность исследовать биологические объекты в естественных для них условиях. Она позволяет решать широкий круг задач: от исследования клеток и тканей организма до изучения отдельных молекул и их комплексов. В отличие от других методов, например, электронной микроскопии, в СЗМ для получения изображений не требуется фиксировать образцы и обрабатывать их солями тяжелых металлов. Сканирование может проводиться в жидкостной ячейки, что обеспечивает условия, необходимые для проявления биологической активности изучаемых объектов. С помощью высокоскоростной атомно-силовой микроскопии возможно изучение молекулярной динамики различных биологических структур, что недоступно для других методов.

Обобщив опыт развития СЗМ, сотрудники Центра перспективных технологий создали новую модель сканирующего зондового микроскопа "ФемтоСкан Х" (рис.1–3), ориентированного на исследования биологических объектов. Прибор обладает выдающимися характеристиками, позволяющими ему занять достойное место в ряду научно-исследовательского инструментария современной лаборатории.
Электронная начинка микроскопа включает скоростные высокоточные цифроаналоговые и аналогово-цифровые преобразователи. Управление на базе современной программируемой логической интегральной схемы позволяет реализовывать несколько независимых каналов обратной связи на частоте 100 кГц, что обеспечивает оптимальное время снятия одного кадра из 1024×1024 точек за 21 с. Максимальная скорость сканирования одного кадра – 4096×4096 точек за 34 с.
Микроскоп реализует все стандартные режимы сканирования: СТМ, контактную и резонансную атомно-силовую микроскопию, силовое картирование, литографию, резистивный, электростатический и магнитный режимы. Сканирование может осуществляться на воздухе и в жидкостной ячейке.
Для снятия частотных характеристик кантилевера реализован режим быстрого сканирования, позволяющий получить выборку сигнала длиной 16*106 точек с периодом в 1 мкс, что давет возможность получать спектр сигнала в диапазоне от 0 до 500 кГц с разрешением 0,03 Гц.
Микроскоп оснащен автоматической трехкоординатной микрометрической системой позиционирования с полем перемещения 5×5×5 мм. В область сканирования образца обеспечен доступ для оптической подсистемы с внешним размером объектива до 45 мм и минимальным удалением от изучаемого объекта 25 мм.
Отличительные
особенности микроскопа
• Высокоскоростная электроника.
• Свободный доступ в область образца.
• Легкость установки кантилевера.
• Полное управление через Интернет.
Для управления микроскопом разработано кросс-платформенное программное обеспечение (ПО), работающее в операционных системах Windows, Linux и MacOS. Может также использоваться хорошо зарекомендовавшее себя ПО ФемтоСкан Онлайн, с помощью которого возможно удаленное управление прибором в многопользовательском режиме, проведение обучения и его техническая поддержка.

Технические характеристики
Разрешение при сканировании
поверхности,макс.,
точек 220 (по одной координате)
Минимальное время снятия кадра
размером 4096×4096 точек 34 с
Максимальная частота
оцифровки сигналов 1 МГц
Число управляющих каналов 4
Число одновременно
регистрируемых сигналов 4
Система точного
позиционирования 10×10×2 мкм,
100×100×8 мкм в пределах поля
сканирования с точностью 20 бит,
поворот кадра на произвольный
угол с разрешением 0,01 град.
Система грубого
позиционирования 5×5×10 мм (X×Y×Z),
точность в плоскости XY – 1 мкм,
точность по оси Z – 10 нм,
три асинхронных (X,Y,Z) шаговых двигателя
Подсистема обратной связи аппаратно
реализованная, макс. частота 100 КГц,
два независимых контура с программируемыми фильтрами
высоких и низких частот
Генераторы частоты два независимых
синхронизированных
по тактовому импульсу,
разрешение по частоте 32 бита
в диапазоне 0–10 МГц
Высоковольтные усилители 3х[-200 ÷ +200]В,
шум не превышает 1мВ
Параметры оптической подсистемы:
удаление от образца, мин. 25 мм
диаметр объектива, макс. 45 мм
вынос объектива, мин. 70 мм
(вынос объектива + удаление от образца –
не менее 95 мм)

Авторы выражают искреннюю благодарность И.Магазову и Г.Киселеву за участие в работе и конструктивное обсуждение результатов.
Разработка микроскопа "ФемтоСкан Х" поддержана
ОАО "РОСНАНО" (Проект "Расширение существующего
производства измерительно-аналитического оборудования
для нанотехнологий в сфере материаловедения, биологии и медицины", http://bit.ly/Iy12eH). ■
 
 Отзывы читателей
Разработка: студия Green Art