Разработан метод и определены оптимальные параметры оптической системы для измерения толщины полимерной оболочки на поверхности субмикронных частиц оксида цинка с разрешением 20 нм.

УДК 535.36, ВАК 05.11.13, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.78.7.54.64

sitemap

Разработка: студия Green Art