Спецвыпуск/2019
О. Ю. Булгаков
Состояние и направления развития метрологического обеспечения испытаний при производстве ЭКБ
Состояние и направления развития метрологического обеспечения испытаний при производстве ЭКБ
Просмотры: 1591
DOI: 10.22184/NanoRus.2019.12.89.651.653
В статье рассмотрены основные проблемы метрологического обеспечения испытаний при производстве электронной компонентной базы. Выявлены причины данных проблем. Построены рациональные пути решения подобных задач.
В статье рассмотрены основные проблемы метрологического обеспечения испытаний при производстве электронной компонентной базы. Выявлены причины данных проблем. Построены рациональные пути решения подобных задач.
Отзывы читателей