eng
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
Просмотры: 2891
21.11.2013
Вышел новый номер научно-технического журнала «Наноиндустрия» - № 7 за 2013 год. Объем номера 64 полосы. В номере авторы представили на русском и английском языках 7 оригинальных статей, посвященных проблемам нанотехнологий и наноиндустрии.
В разделе “Компетентное мнение” опубликована статья директора компании ФБУ “Тест-С.-Петербург”, академика РАН В.В.Окрепилова о стандартизации и метрологии при обеспечении безопасности продукции наноиндустрии
В разделе «Конференции, семинары, выставки» опубликованы статьи Д.Георгиева Д.Гудилина. Первая посвящена маркетингу инноваций, а вторая международному форуму Открытые инновации.
В разделе «Промышленные технологии» опубликована статья компании Остек о сборке интегральных схем по технологии 3D-интеграции.
Значительный объем журнала занял раздел «Контроль и измерения». В нем представлена статья А.Усеинова, К.Кравчука, И.Масленикова «Индентирование. Измерение твердости и трещиностойкости твердых покрытий», в которой рассматриваются способы определения механических характеристик тонкопленочных покрытий с применением индентирования и склерометрии.
В публикации Т.Зиминой и В.Лучинина обсуждаются проблемы создания лаборатории на чипе и микробиологической экспресс-диагностике патогенных бактерий,
Статья T.Дайенга посвящена конфокальной рамановской 3D-визуализации высокого разрешения нитридов III группы.
В разделе «Конференции, семинары, выставки» опубликованы статьи Д.Георгиева Д.Гудилина. Первая посвящена маркетингу инноваций, а вторая международному форуму Открытые инновации.
В разделе «Промышленные технологии» опубликована статья компании Остек о сборке интегральных схем по технологии 3D-интеграции.
Значительный объем журнала занял раздел «Контроль и измерения». В нем представлена статья А.Усеинова, К.Кравчука, И.Масленикова «Индентирование. Измерение твердости и трещиностойкости твердых покрытий», в которой рассматриваются способы определения механических характеристик тонкопленочных покрытий с применением индентирования и склерометрии.
В публикации Т.Зиминой и В.Лучинина обсуждаются проблемы создания лаборатории на чипе и микробиологической экспресс-диагностике патогенных бактерий,
Статья T.Дайенга посвящена конфокальной рамановской 3D-визуализации высокого разрешения нитридов III группы.
Редакция журнала "Наноиндустрия"
Комментарии читателей
