Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "fault tolerance"

Электроника НТБ #4/2021
А. Рычков
ТЕСТИРОВАНИЕ ПРОЕКТОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ НА СБОЕУСТОЙЧИВОСТЬ С ПОМОЩЬЮ ИНСТРУМЕНТА Z01X ОТ SYNOPSYS

DOI: 10.22184/1992-4178.2021.205.4.66.69 Описывается механизм возникновения сбоев функционирования ИС при воздействии тяжелых заряженных частиц, приводятся некоторые методы снижения влияния данных воздействий и рассматриваются принципы работы и преимущества инструмента Z01X от компании Synopsys для тестирования проектов ИС на сбоеустойчивость.

Наноиндустрия #9/2018
Фатеев Иван Александрович, Шалашова Елена Сергеевна
Разработка набора триггеров в базисе КМОП КНИ с повышенной устойчивостью к воздействию ТЗЧ

Современные микросхемы, в силу масштабирования технологических размеров, уменьшения напряжения питания и внутренних емкостей, становятся все более чувствительными к воздействию ТЗЧ. Традиционные специализированные ячейки, устойчивые к воздействию ТЗЧ, теряют свое преимущество вследствие воздействия тяжелых частиц на несколько чувствительных областей. В данной работе представлен разработанный набор радиационно-стойких D триггеров с сигналами сброса, установки и без них на основе DICE элемента в технологическом базисе КНИ 200 нм. УДК 621.382+621.396.6 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.418.423

Наноиндустрия #8/2016
О.Брехов, А.Клименко, А.Жданов, А.Якупов
Реализация экспериментального образца программного комплекса контроля сбоеустойчивости проекта микросхемы

Представлены модули программного обеспечения экспериментального образца программно-аппаратного комплекса для контроля сбоеустойчивости проекта микросхемы. DOI:10.22184/1993-8578.2016.70.8.48.58