Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "наноскопия"

Фотоника #5/2024
М. Е. Степанов, У. А. Хохрякова, Т. В. Егорова, К. А. Магарян, А. В. Наумов
Проливая свет на ДНК-оригами. Применения в фотонике

DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2024.18.5.398.405 Фотоника и ДНК-нанотехнологии удачно дополняют друг друга благодаря возможности использования ДНК-наноструктур для создания сложных нано-оптических систем. Яркие примеры такого сотрудничества можно найти при применении метода ДНК-оригами к задаче создания элементной базы фотоники: контролируемая манипуляция световыми полями диктует высокие требования к точности размещения элементов (наномасштаб), которым можно удовлетворить, адресно прикрепляя желаемые нанообъекты к свернутой требуемым образом молекуле ДНК. В данном обзоре, завершающим цикл работ по применению ДНК-оригами, мы рассмотрим несколько успешных примеров подобного рода сотрудничества.

Фотоника #2/2020
Д. В. Прокопова, С. П. Котова
ФАЗОВЫЕ ДИФРАКЦИОННЫЕ ОПТИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ С ПОВЫШЕННОЙ ЭФФЕКТИВНОСТЬЮ ДЛЯ НАНОСКОПИИ

DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2020.14.2.170.182 Представлены результаты исследований по созданию фазовых дифракционных элементов, формирующих световые поля, в распределении интенсивности которых наблюдаются два главных максимума, вращающиеся при фокусировке и распространении. Их получение основано на оптике спиральных пучков света. Такие оптические элементы можно использовать для модификации функции рассеяния точки оптического флуоресцентного микроскопа с целью создания наноскопа – устройства, позволяющего проводить трехмерную локализацию излучающих объектов с нанометровой точностью.

Наноиндустрия #5/2017
И.Пылев, И.Яминский
Эталон нанометра

Одна из проблем нанометрологии заключается в создании простого и доступного эталона длины в нанометровом диапазоне. На данный момент не существует малогабаритного эталона длиной ровно в 1 нм, с помощью которого можно было бы проводить калибровку сканирующего зондового микроскопа непосредственно в процессе сканирования. Его создание значительно упрощает процесс калибровки микроскопа, а сам эталон служит прочным метрологическим фундаментом для развития перспективных нанотехнологий. УДК 531.711 ВАК 05.02.23 DOI: 10.22184/1993-8578.2017.76.5.52.57