Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "verification scheme"

Наноиндустрия #5/2017
С.Степанов, С.Тарасов, А.Петров, С.Степанов
Исследование погрешности компарации при поверке концевых мер длины на приборе УКМ-100

Проведено исследование точности российского компаратора для поверки концевых мер длины УКМ-100 по международной методике Calibration of gauge block comparators. Показано, что калибровка является более гибким и определенным методом оценки точностных возможностей эталонных приборов, чем применение поверочной схемы. УДК 621.923, ВАК 05.11.01, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.76.5.58.61