Наноиндустрия #7/2017
А.Ахметова, И.Яминский
Сканирующая капиллярная микроскопия
Приведен обзор публикаций о сканирующей ион-проводящей микроскопии с целью изучения истории развития этого метода, его особенностей и областей применения. УДК 621.385.833, ВАК 05.11.13, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.78.7.42.46