Наноиндустрия #7/2017
Г.Мешков, О.Синицына, Ш.Раджабзода, А.Григорьева, И.Яминский
Сканирующая резистивная микроскопия оксидов графена
С помощью сканирующей резистивной микроскопии измерена локальная электропроводность оксидов графена, выращенных методом локального анодного окисления на поверхности графита и полученных химическим методом. УДК 621.385.833, ВАК 05.11.13, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.78.7.48.53