Наноиндустрия #2/2020
И.В.Яминский, А.И.Ахметова, Г.Б.Мешков
Сканирующая зондовая микроскопия дихалькогенидов переходных металлов
DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.2.132.134 С помощью зондовой микроскопии проводились измерения перспективных материалов. Простота метода позволяет узнать морфологию и структуру поверхности, проводимость, исследовать свойства материала при нагреве.
Наноиндустрия #2/2019
И.В.Яминский, А.И.Ахметова, Г.Б.Мешков
Сканирующая зондовая микроскопия в исследованиях тонких пленок
В рамках российско-иранского проекта "Инициация локальных химических реакций в осажденных тонких пленках с использованием сканирующей зондовой микроскопии" продолжены исследования с помощью СЗМ и КМ по созданию многопараметрической литографии. Получены оригинальные результаты по контролируемой модификации поверхности. Точность капиллярной нанолитографии находится на уровне единиц нанометров. DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.2.128.130
Наноиндустрия #7/2017
Г.Мешков, О.Синицына, Ш.Раджабзода, А.Григорьева, И.Яминский
Сканирующая резистивная микроскопия оксидов графена
С помощью сканирующей резистивной микроскопии измерена локальная электропроводность оксидов графена, выращенных методом локального анодного окисления на поверхности графита и полученных химическим методом. УДК 621.385.833, ВАК 05.11.13, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.78.7.48.53