Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "автоматизация измерений"

Электроника НТБ #9/2018
А. Шиганов
Новые универсальные вольтметры серии GDM-7906x от компании GW Instek

Новая линейка вольтметров производства компании GW Instek – GDM-79061/ GDM-79060 – по измерительным ресурсам и производительности удовлетворяет высоким требованиям и запросам инженеров-разработчиков сложных измерительных приложений. Рассмотрены конструктивные особенности GDM-79061 / GDM-79060, основные режимы и отличия от аналогов. DOI: 10.22184/1992-4178.2018.180.9.94.98

Наноиндустрия #9/2018
Раков Александр Валерьевич, Собченко Максим Иванович, Думчиков К. А., Жуков В. В., Ухандеев Владимир Ильич
Автоматизированная система проверки качества материалов печатных плат микрополосковой СВЧ-техники

В данной работе изложены основные принципы построения автоматизированной системы проверки качества материалов печатных плат. Рассмотрены методики измерений параметров диэлектриков, даны структура и описание измерительного стенда и изложены принципы функционирования специализированного программного обеспечения в составе разрабатываемой системы. УДК 621.396.6.001 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.195.196