Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Статьи

Наноиндустрия #7-8/2024

Новости // все новости

26.02.2025

10.02.2025

События // все события

c 09.04.2025 до 11.04.2025

Тег "convolutional neural networks"

Электроника НТБ #3/2024
А. Шупов
СИСТЕМЫ КОМПЬЮТЕРНОГО ЗРЕНИЯ НА ПРОМЫШЛЕННЫХ ПРЕДПРИЯТИЯХ

DOI: 10.22184/1992-4178.2024.234.3.112.115 На промышленном предприятии системы компьютерного зрения помогают исключить человеческий фактор, сократить издержки, повысить гибкость производства, обеспечить безопасность на объекте, следить за соблюдением техники безопасности. В статье рассмотрены особенности системы компьютерного зрения «Сокол», разработанной компанией «Квазар» и инженерным центром «АСК».

Электроника НТБ #7/2018
И. Попов
Аппаратное обеспечение СнК с поддержкой искусственного интеллекта

Рассматриваются области применения и требования, предъявляемые к современным системам искусственного интеллекта, дается характеристика возможности применения различных процессорных архитектур и сетевых протоколов в аппаратном обеспечении средств для компьютерного зрения на основе сверточных нейронных сетей, приводится описание решений компании Synopsys для данной области. DOI: 10.22184/1992-4178.2018.178.7.116.123 УДК 004.8:004.31 |ВАК 05.13.05

Наноиндустрия #9/2018
Аристов Роман Сергеевич, Власов Андрей Игоревич, Вирясова Анастасия Юрьевна, Гладких Алексей Алексеевич, Макарчук Владимир Васильевич
Исследование различных моделей сверточных нейронных сетей для классификации изображений дефектов топологического рисунка СБИС

Рассмотрены различные современные модели нейронных сетей, произведено их обучение и приведены результаты экспериментальных исследований использования каждой модели для классификации дефектов топологии СБИС. Описан метод использования нейронных сетей для детектирования объектов на изображении, и приведен результат применения данного метода для дефектов топологии СБИС. УДК 004.94 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.392.398