Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "cnn"

Наноиндустрия #9/2018
Аристов Роман Сергеевич, Власов Андрей Игоревич, Вирясова Анастасия Юрьевна, Гладких Алексей Алексеевич, Макарчук Владимир Васильевич
Исследование различных моделей сверточных нейронных сетей для классификации изображений дефектов топологического рисунка СБИС

Рассмотрены различные современные модели нейронных сетей, произведено их обучение и приведены результаты экспериментальных исследований использования каждой модели для классификации дефектов топологии СБИС. Описан метод использования нейронных сетей для детектирования объектов на изображении, и приведен результат применения данного метода для дефектов топологии СБИС. УДК 004.94 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.392.398