Электроника НТБ #2/2025
К. Епифанцев
ПЕРСПЕКТИВЫ РАЗВИТИЯ НОРМАТИВНОЙ БАЗЫ И ЭТАЛОНОВ ДЛЯ ПОВЕРКИ МУЛЬТИСЕНСОРНЫХ СИСТЕМ DOI: 10.22184/1992-4178.2025.243.2.138.140 Проанализировано состояние эталонной базы для поверки мультисенсорных систем и определены направления ее развития. Показана эффективность применения таких систем в технике и промышленности для одновременного измерения нескольких параметров. Станкоинструмент #4/2024
В. И. Пронякин, А. С. Комшин
Качество изделий машиностроения и метрологическое обеспечение оценки соответствия продукции в производстве DOI: 10.22184/2499-9407.2024.37.4.68.76 Рассмотрены вопросы обеспечения качества продукции в отечественном машиностроении, связанные с метрологическим обеспечением оценки соответствия продукции в производстве. Показаны сферы деятельности метрологии. Проведен анализ реализации метрологического обеспечения производства в ЕСТПП, ЕСТД. Анализируется производственная структура предприятия. Предложен подход к решению изложенных проблем метрологического обеспечения технологических процессов. Фотоника #6/2024
С. Б. Бычков, А. О. Погонышев, С. В. Тихомиров, В. Р. Сумкин
Методы измерения обратных потерь в волоконно-оптических линиях и компонентах DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2024.18.6.470.484 В статье рассматриваются 3 метода измерения величины обратных потерь (ORL) в волоконно-­оптических системах, применяемые в современных измерительных приборах – ​метод измерений на непрерывном излучении (CW), метод рефлектометрии во временной области (OTDR) и метод рефлектометрии в частотной области (OFDR). Проводится сравнительный анализ этих методов, рассматриваются преимущества и ограничения. Электроника НТБ #10/2022
Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, Е. Шакирова
МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ АО «ЗПП» КАК ИНСТРУМЕНТ ПОВЫШЕНИЯ КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.221.10.52.56 Рассмотрено метрологическое обеспечение АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»). Отмечено, что в обеспечении высоких качественных показателей разрабатываемой продукции первостепенная роль принадлежит достоверным измерениям технических параметров: без правильно выполненных измерений нельзя судить о качестве и надежности изделий. Станкоинструмент #3/2020
В. ПРОНЯКИН, А. КОМШИН
О СОСТОЯНИИ МЕТРОЛОГИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ОЦЕНКИ СООТВЕТСТВИЯ И КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ В ПРОЦЕССЕ ПРОИЗВОДСТВА DOI: 10.22184/2499-9407.2020.20.03.16.17 Достижение высокого уровня, качества и конкурентоспособности отечественной продукции на мировом рынке недостижимо без квалифицированного метрологического обеспечения оценки соответствия продукции в процессе производства. В то же время в промышленности отсутствует необходимое количество кадров специалистов-метрологов. Фотоника #7/2019
В. В. Григорьев, В. Е. Кравцов, А. К. Митюрев, Е. А. Науменко, А. О. Погонышев, К. Б. Савкин, С. В. Тихомиров
Особенности метрологического обеспечения оптических рефлектометров DOI: 10.22184/1992-7296.FRos.2019.13.7.676.679 В статье представлены результаты исследовательских работ, направленных на обеспечение единства измерений параметров оптических рефлектометров. Описываются эталонная база и нормативно-­техническая документация, созданные специалистами ВНИИОФИ. Рассматриваются результаты внедрения и применения созданных эталонов. Также приводятся результаты исследований методов калибровки нового перспективного класса оптических рефлектометров, работающих в частотной области. Фотоника #7/2019
М. В. Канзюба
Метрологическое обеспечение измерений временных характеристик импульсного лазерного излучения в пикосекундном диапазоне DOI: 10.22184/1992-7296.FRos.2019.13.7.670.675 Прецизионная обработка материалов, техника лазерной дальнометрии и медицины используют пикосекундные импульсные лазерные системы. Это требует создания средств измерений временных характеристик импульсного лазерного излучения. В статье представлены результаты деятельности ВНИИОФИ в области метрологического обеспечения измерений временных характеристик импульсного лазерного излучения в пикосекундном диапазоне. Электроника НТБ #3/2019
В. Быканов, Б. Подъяпольский, В. Булгаков
Научно-технические проблемы метрологического обеспечения разработки экб нового поколения Рассмотрены основные проблемы метрологического обеспечения испытаний при производстве электронной компонентной базы, выявлены их причины и предложены рациональные пути решения подобных задач. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.184.3.112.118 УДК 621.38 | ВАК 05.27.06 Электроника НТБ #2/2019
А. Кривов, Е. Смирнова, К. Бондин, П. Николаев
Необходимость межлабораторных сличений в современной метрологии В практике метрологического обеспечения электронных производств все большее значение приобретает такая технология достижения и поддержания требуемой точности промышленных измерений, как межлабораторные сравнительные испытания (МСИ). В статье рассмотрены вопросы реализации требований действующих стандартов в части, относящейся к МСИ, и приведены краткие сведения о пилотном проекте по МСИ результатов калибровки и поверки электроизмерительных приборов, выполненном компанией «Диполь». УДК 006.91:621.317.089.6 | ВАК 05.11.15 DOI: 10.22184/1992-4178.2019.183.2.58.63 Фотоника #3/2018
Т. С. Лисовский
Современные методы измерения оптических характеристик тонкопленочных покрытий Представлены результаты новейших разработок в области метрологического обеспечения измерений оптических характеристик тонкопленочных покрытий в широком диапазоне электромагнитного спектра от 185 нм до 5200 нм. Показаны технические решения для проведения автоматических измерений коэффициентов пропускания и абсолютного зеркального отражения плоскопараллельных деталей и призм. Представлены результаты реальных измерений покрытий с предельными характеристиками. DOI: 10.22184/1993-7296.2018.71.3.346.351