sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по нанотехнологиям
А.О. Жигачев, Ю.И. Головин, А.В. Умрихин, В.В Коренков, А.И. Тюрин, В.В. Родаев, Т.А. Дьячек, Б.Я. Фарбер / Под общей редакцией Ю.И. Головина
Под редакцией д.т.н., профессора Мальцева П.П.
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "обработка"
Станкоинструмент #4/2023
В. Е. Иноземцев, А. Ю. Попов
Аспекты обеспечения качественной поверхности при комплексных методах обработки алюминиевых сплавов и пористой металлокерамики
DOI: 10.22184/2499-9407.2023.33.4.52.58 Изучены процессы формирования качественных показателей поверхностного слоя для деталей из алюминиевых сплавов и пористой металлокерамики, а также возможности контроля технологии обработки. Установлены основные критерии достижения требуемых параметров качественной поверхности в процессе комплексной технологии формообразования.
Электроника НТБ #6/2022
С. Новиков, Н. Плуготаренко
МЕТОД ОБРАБОТКИ ДАННЫХ ОТКЛИКОВ РЕЗИСТИВНЫХ СЕНСОРОВ ГАЗА ДЛЯ СОКРАЩЕНИЯ ВРЕМЕНИ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.217.6.102.106 Рассмотрен метод обработки данных откликов резистивных сенсоров, который позволяет сократить время определения концентрации газа, а также увеличить точность получаемых результатов по сравнению со стандартными методиками проведения измерений.
Наноиндустрия #7-8/2018
А.Ахметова, И.Яминский
Быстродействующая сканирующая зондовая микроскопия
Быстродействующая сканирующая зондовая микроскопия позволяет изучать живые объекты на молекулярном уровне с миллисекундным временным разрешением, что открывает новые возможности для биомедицины. Применяется при решении комплексных задач: определения бактериальной антибиотикорезистентности, скрининга лекарств с использованием единичной клетки, адресной доставки веществ в область биоткани и биообъекта, раннее обнаружение биологических агентов. DOI: 10.22184/1993-8578.2018.11.7-8.530.533
Разработка: студия Green Art