sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по нанотехнологиям
Пантелеев В., Егорова О., Клыкова Е.
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "detecting defects"
Наноиндустрия #7-8/2018
К.Ракетов, Н.Израилев, А.Казачков, Е.Заблоцкая, И.Род, М.Рябков, А.Исаченко, Д.Шамирян
Об автоматизированной системе детектирования дефектов на МЭМС-производстве
Системы контроля продукции на различных технологических стадиях играют ключевую роль в обеспечении производства, улучшении производственных процессов и сокращении производственных потерь. В МЭМС-производстве для этого используется автоматизированная оптическая инспекция, создающая массив изображений, требующих обработки и анализа. В статье представлены результаты внедрения в ООО "МАППЕР" автоматизированной системы детектирования дефектов литографии, базирующейся на ПО для обработки изображений, разработанном ООО "АКСАЛИТ Софт". DOI: 10.22184/1993-8578.2018.11.7-8.542.548
Разработка: студия Green Art