Наноиндустрия #2/2019
И.В.Яминский, А.И.Ахметова, Г.Б.Мешков, А.В.Оленин
Сканирующая зондовая микроскопия 2D наноразмерных структур для энергонакопителей и катализаторов
В рамках работ по модификации строения и определения физико-химических и электрофизических характеристик 2D наноразмерных структур проведено исследование их проводимости. Получены данные об электрической проводимости структур TiS3 на поверхности оксида кремния. Измерены проводимости графена и графита методом СРМ. Данные получены с помощью СЗМ ФемтоСкан. DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.2.148.151