Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "количественная геометрия"

Наноиндустрия #7-8/2019
О.П.Познанский
Топометрия воксела: фрактальные и евклидовы дескрипторы диффузионно-взвешенной формы разнонаправленного магнитно-резонансного сигнала

Форма поверхности внутри вокселей в разнонаправленной диффузионно-взвешенной магнитно-резонансной томографии характеризуется топологической неоднородностью. Если контур неправильной формы можно идентифицировать и сегментировать из цифрового изображения, то соответствующие геометрические дескрипторы могут применяться для его числовой характеристики. В работе введены фрактальные и евклидовы размерности объема, площади и среднего радиуса для описания поверхности. Их можно использовать в качестве суррогатного параметра для определения шероховатости. Взаимосвязь между показателями разных вокселей показывает существование отдельных групп со структурными различиями, заданными типом биологической ткани. Метод представляет стандартизированную непрерывную числовую классификацию формы, полезную для количественного анализа изменения морфологии поверхности от воспалительных заболеваний, процессов старения и развития биологических тканей. DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.7-8.406.414