Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "high-speed atomic force microscopy"

Наноиндустрия #5/2020
И.В.Яминский, А.И.Ахметова
Зондовая микроскопия в исследовании изменений роста, подвижности, метаболизма и секреции раковых клеток

DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.5.298.302 Современные методы СЗМ позволяют получить детальную картину топологии живых клеток, в том числе раковых, с нанометровым пространственным разрешением в процессе их роста. Развитие методов высокоскоростной атомно-силовой микроскопии дало возможность получать изображение клеток с миллисекундным пространственным разрешением. Сканирующая капиллярная (ион-проводящая) микроскопия позволяет исследовать шероховатую поверхность живых клеток за счет изменения протекающего ионного тока, практически исключая силовое воздействие на клетку. Использование сканирующей капиллярной микроскопии в исследовании раковых клеток открывает новые возможности для скрининга лекарств, получения новых данных о влиянии изменения внешних условий на кинетику роста опухоли и жизнедеятельности клеток.