Тег "неразрушающий контроль"
Фотоника #5/2021 Е. В. Кузнецов, П. Ю. Лобанов, И. С. Мануйлович, М. Н. Мешков, О. Е. Сидорюк, Л. А. Скворцов Неразрушающий контроль изделий из пластика посредством активной термографии при импульсном лазерном нагреве
DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2021.15.5.428.442 В статье показаны возможности неразрушающего контроля подповерхностной структуры различных объектов методом импульсной термографии. Представлен ряд примеров, и проведен анализ их структуры. Метод включает нагрев поверхности объекта лазерным излучением и пирометрическое исследование локальных изменений температуры поверхности. Информация извлекается из результатов термографии, полученных как в течение принудительного нагрева, так и во время последующего охлаждения образца. Основное внимание в статье уделено деталям, выполненным из пластмасс, применяемых в качестве конструкционных материалов в широком круге изделий.
Электроника НТБ #10/2018 Ф. Васильев, А. Медведев Выявление скрытых дефектов соединений
В статье рассматривается применение метода неразрушающего диагностического контроля печатных и проводных межсоединений электронных устройств и систем, позволяющего повысить эффективность выявления их скрытых дефектов. УДК 620.1.052, 658.562.4 | ВАК 05.11.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.181.10.94.97
Фотоника #4/2018 М. А. Симонов Волоконно-оптическая система мониторинга технического состояния объектов промышленности
Статья знакомит с продукцией предприятия ООО ИП "НЦВО-Фотоника", разработанной и выпускаемой в компании для неразрушающего контроля состояния сложных технических объектов на опасных промышленных предприятиях. DOI: 10.22184/1993-7296.2018.72.4.414.416
Фотоника #2/2013 M. Фарьер, Т. Эщеркирхен, Г. Векслер, А. Мрожек Широкоформатные кмоп-сенсоры с активными пикселами для цифровой рентгенографии
Существуют приборы, для которых малые размеры пиксела вовсе не являются необходимым условием успешной работы. КМОП-сенсоры с активным пикселом разработаны для устройств, связанных с регистрацией рентгеновского излучения, в том числе в медицине, в промышленном неразрушающем контроле и рентгеновской кристаллографии. Такие преимущества, как низкий шум считывания (менее 300 электронов), низкий темновой ток, гибкость в реализации КМОП-схемотехники и снижение производственных затрат, повышают конкурентоспособность этих сенсоров.
Наноиндустрия #3/2012 В.Костюченко Акустическая микроскопия: выявление скрытых дефектов в микроэлектронике
Важным преимуществом акустической микроскопии является ее способность обнаруживать скрытые дефекты в образцах, которые могут возникнуть в процессе производства. При использовании акустической микроскопии анализ и выявление дефектов, таких как расслоения, пустоты и трещины становится более эффективным, чем при любом другом методе проверки. В представленной статье читатели смогут познакомиться с акустической микроскопией, получить представление о принципе ее работы, а также о методиках поиска дефектов с помощью этого метода.
eng
