Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Статьи

Наноиндустрия #7-8/2024

Новости // все новости

01.04.2025

События // все события

c 09.04.2025 до 11.04.2025

Тег "microsphere"

Наноиндустрия #3-4/2023
С.А.Сенотрусова, А.И.Ахметова, И.В.Яминский
СВЕРХРАЗРЕШАЮЩАЯ СПОСОБНОСТЬ МИКРОЛИНЗ В ИССЛЕДОВАНИИ БИОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ

DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2023.16.3-4.168.176 Пространственное разрешение любого обычного оптического микроскопа ограничено дифракцией световых волн на апертуре объектива, при белом свете в лучших оптических микроскопах предел разрешения составляет около 200 нм. Один из способов преодоления данного ограничения – микролинзовая микроскопия. Микроскопия с использованием микросфер является одним из видов микроскопии без использования меток, в котором сферические микролинзы помещаются непосредственно на образец или вблизи образца для получения оптических изображений высокого разрешения. Благодаря визуализации без использования меток и в режиме реального времени оптическая микролинзовая микроскопия демонстрирует большой потенциал в медицине и биологии.

Наноиндустрия #7-8/2021
И.В.Яминский, А.И.Ахметова, С.А.Сенотрусова
Микроскопия сверхвысокого разрешения в биомедицине и биологии

DOI: 10.22184/1993-8578.2021.14.7-8.424.428 Оптический микроскоп – распространенный и простой прибор для изучения объектов в микромасштабе, особенно в области биологии, биомедицины, химии. Значительное ограничение в использовании оптической микроскопии – предел оптической дифракции, который составляет примерно 250 нм в белом свете при длине волны около 550 нм и числовой апертуре микроскопа 1,0. Этого разрешения часто недостаточно для визуализации клеточных органелл, тканей, вирусных и бактериальных частиц. Микросфера на поверхности образца может преодолеть это ограничение и визуализировать структуры размером до 25 нм.