Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "morphological profile"

Наноиндустрия #3-4/2022
И.В.Яминский, А.И.Ахметова, Т.О.Советников, М.А.Тихомирова, Шуанг Янг
СКАНИРУЮЩАЯ КАПИЛЛЯРНАЯ МИКРОСКОПИЯ: ВИЗУАЛИЗАЦИЯ ОПУХОЛЕВЫХ КЛЕТОК

DOI: 10.22184/1993-8578.2022.15.3-4.168.173 Сканирующая капиллярная микроскопия (или сканирующая ион-проводящая микроскопия) – одна из методик сканирующей зондовой микроскопии, основанная на использовании нанокапилляров. Важным преимуществом СКМ перед остальными методами является несиловое воздействие на объект исследования в процессе измерения, а также возможность проводить исследования в естественной среде – в жидкости, вследствие чего эта методика стала активно использоваться в биологических и медицинских исследованиях. Еще одним оригинальным преимуществом СКМ является использование двухканальных капилляров, что позволяет применять эту методику в качестве сенсора, например, для измерения активных форм кислорода вблизи клетки.