Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "корреляционный анализ"

Наноиндустрия #4/2012
А.Протопопова, Е.Дубровин, А.Филонов
Корреляционный анализ в сканирующей зондовой микроскопии

В первую очередь в сканирующей туннельной микроскопии исследователи часто работают с органическими веществами, формирующими высокоупорядоченные тонкие пленки или кристаллические структуры.Такие объекты прекрасно подходят, чтобы получить картинки поверхности с эффектным молекулярным разрешением. Такие изображения допускают построение пространственной модели элементарной ячейки пленки или кристалла. Общая проблема таких изображений – их зашумленность. Чтобы улучшить их качество, используются методы корреляционного анализа.