sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по нанотехнологиям
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "анализ изображений"
Наноиндустрия #7-8/2020
З.С.Плиева, Т.А.Смирнова, М.В.Зубашева, Ю.А.Смирнов, В.Г.Жуховицкий, А.И.Ахметова, И.В.Яминский
Структура выростов спор bacillus cereus
DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.458.464 Bacillus cereus повсеместно распространенный вид бацилл. Известно, что B. cerеus является причиной различных заболеваний, главным образом связанных с поражением желудочно-кишечного тракта (ЖКТ) с симптомами диареи и рвоты. В. cerеus может быть этиологическим агентом менингита, перикардита, пневмонии, заболевания глаз, сопутствовать раневым инфекциям. Приведены новые данные о структуре выростов бактерий B. cerеus на основании экспериментальных данных, полученных с помощью просвечивающей электронной микроскопии и компьютерного анализа изображений.
Наноиндустрия #9/2018
Кондрашов Владимир Владимирович, Чапкин Вячеслав Вячеславович, Лукашенков Анатолий Викторович, Копылов Андрей Валерьевич, Середин Олег Сергеевич
Построение системы моделирования и управления процессом лазерной подгонки пленочных резисторов в микроэлектронике
В статье описано построение системы моделирования и управления процессом лазерной подгонки резистивных элементов на основе сеточных схемных моделей и методов анализа изображений. Подробно рассмотрены подходы к решению задач, возникающих при автоматизации процесса подгонки. УДК 62-5; 004.942; 004.932.2 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.211.216
Наноиндустрия #2/2016
И.Яминский, А.Филонов, О.Синицына, Г.Мешков
Программное обеспечение "ФемтоСкан Онлайн"
Программное обеспечение "ФемтоСкан Онлайн" предназначено для обработки данных и построения изображений в сканирующей зондовой микроскопии. Одновременно возможности этого программного пакета полезны в электронной и оптической микроскопии. DOI:10.22184/1993-8578.2016.64.2.42.46
Наноиндустрия #4/2012
С.Сомина, Р.Кадушников, А.Разводов
Цифровая микроскопия уходит в онлайн
Переход анализа изображений микроструктуры от традиционных программно-аппаратных комплексов к веб-сервисам способствует повышению эффективности работы специалистов и использования исследовательского оборудования. В статье описывается применение для этих целей веб-сервиса SIAMS Apps.
Разработка: студия Green Art