Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "анализ изображений"

Наноиндустрия #7-8/2020
З.С.Плиева, Т.А.Смирнова, М.В.Зубашева, Ю.А.Смирнов, В.Г.Жуховицкий, А.И.Ахметова, И.В.Яминский
Структура выростов спор bacillus cereus

DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.458.464 Bacillus cereus повсеместно распространенный вид бацилл. Известно, что B. cerеus является причиной различных заболеваний, главным образом связанных с поражением желудочно-кишечного тракта (ЖКТ) с симптомами диареи и рвоты. В. cerеus может быть этиологическим агентом менингита, перикардита, пневмонии, заболевания глаз, сопутствовать раневым инфекциям. Приведены новые данные о структуре выростов бактерий B. cerеus на основании экспериментальных данных, полученных с помощью просвечивающей электронной микроскопии и компьютерного анализа изображений.

Наноиндустрия #9/2018
Кондрашов Владимир Владимирович, Чапкин Вячеслав Вячеславович, Лукашенков Анатолий Викторович, Копылов Андрей Валерьевич, Середин Олег Сергеевич
Построение системы моделирования и управления процессом лазерной подгонки пленочных резисторов в микроэлектронике

В статье описано построение системы моделирования и управления процессом лазерной подгонки резистивных элементов на основе сеточных схемных моделей и методов анализа изображений. Подробно рассмотрены подходы к решению задач, возникающих при автоматизации процесса подгонки. УДК 62-5; 004.942; 004.932.2 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.211.216

Наноиндустрия #2/2016
И.Яминский, А.Филонов, О.Синицына, Г.Мешков
Программное обеспечение "ФемтоСкан Онлайн"

Программное обеспечение "ФемтоСкан Онлайн" предназначено для обработки данных и построения изображений в сканирующей зондовой микроскопии. Одновременно возможности этого программного пакета полезны в электронной и оптической микроскопии. DOI:10.22184/1993-8578.2016.64.2.42.46

Наноиндустрия #4/2012
С.Сомина, Р.Кадушников, А.Разводов
Цифровая микроскопия уходит в онлайн

Переход анализа изображений микроструктуры от традиционных программно-аппаратных комплексов к веб-сервисам способствует повышению эффективности работы специалистов и использования исследовательского оборудования. В статье описывается применение для этих целей веб-сервиса SIAMS Apps.