Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "трехмерная визуализация"

Наноиндустрия #6/2022
И.В.Яминский, А.И.Ахметова
ПРАКТИКУМ ПО ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ ФИЗИЧЕСКОГО ФАКУЛЬТЕТА МГУ ИМЕНИ М.В. ЛОМОНОСОВА

https://doi.org/10.22184/1993-8578.2022.15.6.328.332 Сканирующая зондовая микроскопия является простым методом для изучения материалов, в том числе полимеров и биополимеров с нанометровым разрешением в жидкости и на воздухе. Зондовая микроскопия позволяет визуализировать поверхностную структуру образцов, оценить их конформацию, адгезию, адсорбцию на различных подложках. При этом метод не требует длительной пробоподготовки, нужно лишь разместить образец на атомно гладкой подложке, какими являются, например, графит и слюда. Навык работы с зондовым микроскопом и умение обрабатывать полученные данные являются важным этапом в программе обучения молодых специалистов. Для развития этих компетенций на физическом факультете МГУ постоянно совершенствуется и модернизируется практикум по зондовой микроскопии. Практикум представляет собой восемь лабораторных работ по ключевым тематикам и включает обучение как базовым, так и углубленным навыкам по работе с микроскопом, по обработке и интерпретации данных зондовой микроскопии.