Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Статьи

Наноиндустрия #7-8/2024

Новости // все новости

26.02.2025

10.02.2025

События // все события

c 09.04.2025 до 11.04.2025

Тег "noise and fluctuations"

Наноиндустрия #2/2023
А.И.Ахметова, О.В.Иванов, Н.Е.Максимова, Т.О.Советников, А.Д.Терентьев, И.В.Яминский
ТЕОРИЯ И ПРАКТИКА СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ: НОВЫЕ РЕШЕНИЯ ДЛЯ ФИЗИКИ, ХИМИИ, БИОЛОГИИ И МЕДИЦИНЫ

DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2023.16.2.88.94 С момента первой публикации по сканирующей зондовой микроскопии [1] прошел 41 год. За это время сканирующие зондовые микроскопы, позволяющие заглянуть в наномир, стали практическими инструментами физиков, химиков, биологов, медиков, производственников и учителей. Зондовые микроскопы образовали обширное семейство высокоточных и высокоинформативных приборов для наблюдения топографии, морфологии и широкого спектра физико-химических свойств изучаемых объектов. При этом выдавая детализацию получаемых данных на уровне долей нанометра с временным разрешением в миллисекунды. Остались ли нерешенные задачи? Конечно! Об их небольшой части, о задачах и проблемах в зондовой микроскопии ведется рассказ в этой статье.