Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "структура поверхности"

Наноиндустрия #4/2011
М.Вебер
Конфокальная микроскопия микро- и наноструктурированных поверхностей материалов

Один из ключевых моментов материаловедения – получение подробной информации о поверхности. Уже недостаточно двухмерной профилометрии на основе параметров шероховатости – требуется комплексное трехмерное описание топографии, включающее нестатические характеристики. Конфокальная микроскопия (КМ) имеет серьезные преимущества в плане бесконтактного и оперативного получения таких параметров. Именно этот метод обеспечивает описание детерминированных и недетерминированных структур поверхности.