Электроника НТБ #9/2024
К. Епифанцев
СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ЗАВИСИМОСТИ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ НА КОНТУРОГРАФЕ ОТ УГЛОВЫХ И СКОРОСТНЫХ ПАРАМЕТРОВ ЩУПА
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.240.9.116.119 Представлены экспериментальные данные, которые позволяют изучить процесс калибровки контурографа для разных экспериментальных условий и выявить оптимальные значения угловых и скоростных параметров измерений.
Фотоника #6/2024
С. Б. Бычков, А. О. Погонышев, С. В. Тихомиров, В. Р. Сумкин
Методы измерения обратных потерь в волоконно-оптических линиях и компонентах
DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2024.18.6.470.484 В статье рассматриваются 3 метода измерения величины обратных потерь (ORL) в волоконно-оптических системах, применяемые в современных измерительных приборах – метод измерений на непрерывном излучении (CW), метод рефлектометрии во временной области (OTDR) и метод рефлектометрии в частотной области (OFDR). Проводится сравнительный анализ этих методов, рассматриваются преимущества и ограничения.
Электроника НТБ #5/2024
Н. Лемешко, М. Горелкин
ИЗМЕРЕНИЯ ПОМЕХ, ФОРМИРУЕМЫХ ДВИГАТЕЛЯМИ ПОСТОЯННОГО ТОКА, С ПОМОЩЬЮ ПРИБОРОВ КОМПАНИИ RIGOL. ЧАСТЬ 2
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.236.5.144.151 Рассмотрены способы анализа кондуктивных помех в сетях электропитания и приведен пример измерений кондуктивных помех, формируемых электродвигателями постоянного тока, с использованием осциллографов Rigol MSO8204 и анализаторов спектра Rigol RSA5056-TG.
Электроника НТБ #4/2024
Н. Лемешко, М. Горелкин
ИЗМЕРЕНИЯ ПОМЕХ, ФОРМИРУЕМЫХ ДВИГАТЕЛЯМИ ПОСТОЯННОГО ТОКА, С ПОМОЩЬЮ ПРИБОРОВ КОМПАНИИ RIGOL. ЧАСТЬ 1
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.235.4.104.110 Рассмотрены основные причины формирования кондуктивных электромагнитных помех электродвигателями постоянного тока (ЭДПТ), оценено влияние технического состояния и условий эксплуатации ЭДПТ на уровень помехоэмиссии, описаны методы снижения и способы измерений помех, формируемых ЭДПТ.
Электроника НТБ #8/2017
А.Насонов
Психология измерений
Рассмотрено влияние психологии на процессы создания электронных изделий. Отмечены подходы, позволяющие оптимизировать эти процессы с учетом психологических факторов. УДК 621.317 ВАК 05.11.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2017.169.8.106.108
Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр"
Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.
Наноиндустрия #6/2012
В.Матвеев
Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии
В статье приведена информация о прошедшей в Черноголовке 5-й школе по метрологии и стандартизации в наноиндустрии. В докладах показано состояние и развитие нанотехнологий в науке и технике, основным критерием которых стало повышение точности измерений на наноуровне. Приводятся сведения о современных приборах для измерительного контроля при проведении нанотехнологических операций.