sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по нанотехнологиям
Пантелеев В., Егорова О., Клыкова Е.
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "measurements"
Электроника НТБ #9/2024
К. Епифанцев
СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ЗАВИСИМОСТИ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ НА КОНТУРОГРАФЕ ОТ УГЛОВЫХ И СКОРОСТНЫХ ПАРАМЕТРОВ ЩУПА
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.240.9.116.119 Представлены экспериментальные данные, которые позволяют изучить процесс калибровки контурографа для разных экспериментальных условий и выявить оптимальные значения угловых и скоростных параметров измерений.
Фотоника #6/2024
С. Б. Бычков, А. О. Погонышев, С. В. Тихомиров, В. Р. Сумкин
Методы измерения обратных потерь в волоконно-оптических линиях и компонентах
DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2024.18.6.470.484 В статье рассматриваются 3 метода измерения величины обратных потерь (ORL) в волоконно-­оптических системах, применяемые в современных измерительных приборах – ​метод измерений на непрерывном излучении (CW), метод рефлектометрии во временной области (OTDR) и метод рефлектометрии в частотной области (OFDR). Проводится сравнительный анализ этих методов, рассматриваются преимущества и ограничения.
Электроника НТБ #5/2024
Н. Лемешко, М. Горелкин
ИЗМЕРЕНИЯ ПОМЕХ, ФОРМИРУЕМЫХ ДВИГАТЕЛЯМИ ПОСТОЯННОГО ТОКА, С ПОМОЩЬЮ ПРИБОРОВ КОМПАНИИ RIGOL. ЧАСТЬ 2
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.236.5.144.151 Рассмотрены способы анализа кондуктивных помех в сетях электропитания и приведен пример измерений кондуктивных помех, формируемых электродвигателями постоянного тока, с использованием осциллографов Rigol MSO8204 и анализаторов спектра Rigol RSA5056-TG.
Электроника НТБ #4/2024
Н. Лемешко, М. Горелкин
ИЗМЕРЕНИЯ ПОМЕХ, ФОРМИРУЕМЫХ ДВИГАТЕЛЯМИ ПОСТОЯННОГО ТОКА, С ПОМОЩЬЮ ПРИБОРОВ КОМПАНИИ RIGOL. ЧАСТЬ 1
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.235.4.104.110 Рассмотрены основные причины формирования кондуктивных электромагнитных помех электродвигателями постоянного тока (ЭДПТ), оценено влияние технического состояния и условий эксплуатации ЭДПТ на уровень помехоэмиссии, описаны методы снижения и способы измерений помех, формируемых ЭДПТ.
Электроника НТБ #8/2017
А.Насонов
Психология измерений
Рассмотрено влияние психологии на процессы создания электронных изделий. Отмечены подходы, позволяющие оптимизировать эти процессы с учетом психологических факторов. УДК 621.317 ВАК 05.11.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2017.169.8.106.108
Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр"
Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.
Наноиндустрия #6/2012
В.Матвеев
Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии
В статье приведена информация о прошедшей в Черноголовке 5-й школе по метрологии и стандартизации в наноиндустрии. В докладах показано состояние и развитие нанотехнологий в науке и технике, основным критерием которых стало повышение точности измерений на наноуровне. Приводятся сведения о современных приборах для измерительного контроля при проведении нанотехнологических операций.
Разработка: студия Green Art