Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "atomic resolution"

Наноиндустрия #2/2018
Б.Логинов
Зондовая микроскопия: новые возможности для вузов и школ

Разработанные и апробированные автором новые методики преподавания, которые реализованы на базе серийного микроскопа СММ-2000, позволяют проводить интересные и понятные учебные курсы по зондовой микроскопии и нанотехнологиям. УДК 620.187; ВАК 01.04.01; DOI: 10.22184/1993-8578.2018.81.2.174.179

Наноиндустрия #2/2013
О.Синицына
Сканирующая туннельная микроскопия. Прошлое и будущее

В 1981 году ученые из лаборатории IBM в Цюрихе создали сканирующий туннельный микроскоп, в котором для получения изображений использовался туннельный эффект. Принцип, положенный в основу микроскопа, позволил достигнуть атомарного разрешения. Изображения атомов стали наполнять страницы научных журналов.