Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Статьи

Наноиндустрия #7-8/2024

Новости // все новости

26.02.2025

10.02.2025

События // все события

c 09.04.2025 до 11.04.2025

Тег "standard material"

Аналитика #6/2023
В. И. Добровольский, Н. Г. Оганян
Совершенствование метрологической базы физико-химических и электрохимических измерений

doi.org/10.22184/2227-572X.2023.13.6.436.441 Метрология является основой качества производимых товаров и процессов, так как результаты измерений служат источником многих принимаемых решений. Ей принадлежит ключевая роль в развитии научного и технического прогресса, при проектировании и эффективном производстве продукции, а также в процессе обнаружения и предотвращения несоответствий. Метрология фундаментальным образом поддерживает здравоохранение, является условием обеспечения безопасности и охраны окружающей среды, производства пищевых продуктов и справедливого судопроизводства. Важная роль в общей метрологической инфраструктуре страны принадлежит метрологическим институтам. Их цели и задачи направлены на деятельность в интересах общества. ФГУП «ВНИИФТРИ» – Государственный научный метрологический институт Российской Федерации – занимает достойное место в ряду предприятий отрасли. Одно из направлений работы – физико-химические виды измерений, закрепленные за соответствующим Научно-исследовательским отделением – НИО 6. В статье приведены результаты работы НИО 6 за последние два года: с середины 2021 года по первое полугодие 2023 года включительно, направленные на обеспечение в стране единства в сфере физико-химических измерений, в том числе измерений параметров частиц и измерений в электрохимии.

Наноиндустрия #5/2013
П.Тодуа, В.Гавриленко
Нанометрология – основа устойчивого развития нанотехнологий

Одна из ключевых задач нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано - и субнанометровом диапазонах. Важнейшими параметрами, характеризующими наночастицы, наноструктуры, нанопокрытия являются размерные. В статье представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии размерных измерений к единице длины в системе СИ.