sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по нанотехнологиям
Под редакцией д.т.н., профессора Мальцева П.П.
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "графит"
Наноиндустрия #2/2022
О.В.Синицына, И.В.Яминский
СИЛА СКАНИРУЮЩЕГО СИЛОВОГО МИКРОСКОПА
DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2022.15.2.140.143 У атомно-силового микроскопа есть и другое название – сканирующий силовой микроскоп. При получении изображений с его помощью необходимо использовать обратную связь для контроля силы взаимодействия между зондом и образцом. Как правило, ее нужно поддерживать на минимальном значении, чтобы не деформировать образец и зонд в процессе измерений. Напротив, в нанолитографии и наноиндентировании следует прилагать большую силу, чтобы получить четкий рисунок на поверхности. В данной статье рассматривается, какие силы возникают и сколько энергии затрачивается при возникновении типичного дефекта в виде шестиконечной звезды на графите.
Наноиндустрия #2/2019
И.В.Яминский, А.И.Ахметова, Г.Б.Мешков, А.В.Оленин
Сканирующая зондовая микроскопия 2D наноразмерных структур для энергонакопителей и катализаторов
В рамках работ по модификации строения и определения физико-химических и электрофизических характеристик 2D наноразмерных структур проведено исследование их проводимости. Получены данные об электрической проводимости структур TiS3 на поверхности оксида кремния. Измерены проводимости графена и графита методом СРМ. Данные получены с помощью СЗМ ФемтоСкан. DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.2.148.151
Печатный монтаж #5/2015
Е.Борисов, С. Чигиринский, В. Мейлицев
Групповая пайка. Технология компании SST
Описано оборудование компании SST для монтажа и герметизации компонентов методом групповой пайки. Основное внимание уделено оснастке, изготавливаемой компанией из уникального графита, разработанного ею для космической отрасли.
Наноиндустрия #5/2011
Н.Зайцев, Е.Горнев, С.Орлов, А.Красников, К.Свечкарев, Р.Яфаров
Наноалмазографитовые автоэмиттеры для интегральных автоэмиссионных элементов
Изучены наноструктурированные алмазографитовые автоэмиттеры для интегральных автоэмиссионных микроприборов. Обнаружена самоорганизация алмазных нанокристаллитов в графитовых и полимероподобных пленках при осаждении в неравновесной СВЧ -плазме паров этанола. Определены режимы раздельного осаждения углеродных структур заданной аллотропной модификации. Изготовлены интегральные автоэмиссионные микроприборы: диоды и триоды с наноалмазографитовыми эмиттерами. Наноалмазографитовые эмиттеры при 1×10-6 Торр и 300К обеспечивают плотность эмиссионного тока около 2 А/см2 и порог эмиссии до 1,5 В/мкм.
Наноиндустрия #2/2011
В.Швец
Создание структур из оксида на поверхности графита
Развитие современной электроники требует постоянного уменьшения размеров создаваемых структур, одним из перспективных способов получения которых являются методы литографии с помощью атомно-силового микроскопа. Эти методы включают механическое индентирование поверхности, в том числе термомеханическое, манипуляцию отдельными молекулами, различные воздействия с помощью электрического поля: анодное окисление, испарение с поверхности, химическое осаждение вещества, изменение зарядов, создание микровзрывов и ударных волн [1]. Из них одним из первых был реализован метод локального анодного окисления (ЛАО), который в настоящее время изучается наиболее интенсивно.
Наноиндустрия #1/2011
О.Синицына, Г.Мешков, И.Яминский.
Визуализация атомной решетки графита: идеи для практикума
Методы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) считаются главными инструментами нанотехнологии. Их история началась с изобретения сканирующего туннельного микроскопа (СТМ), впервые позволившего человечеству увидеть атомы и точечные дефекты атомной решетки. Представляется целесообразным, чтобы для освоения фундаментальных основ строения материи обучение естественно-научным специальностям обязательно включало практикум по СТМ.
Разработка: студия Green Art