sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по нанотехнологиям
Под ред. Л.И. Трахтенберга, М.Я. Мельникова
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "cканирующая зондовая микроскопия"
Наноиндустрия #2/2018
Б.Логинов
Зондовая микроскопия: новые возможности для вузов и школ
Разработанные и апробированные автором новые методики преподавания, которые реализованы на базе серийного микроскопа СММ-2000, позволяют проводить интересные и понятные учебные курсы по зондовой микроскопии и нанотехнологиям. УДК 620.187; ВАК 01.04.01; DOI: 10.22184/1993-8578.2018.81.2.174.179
Наноиндустрия #2/2018
О.Синицына, А.Ахметова, Г.Мешков, Т.Гончарова, И.Пылев, М.Смирнова, Ю.Белов, И.Яминский
Влияние микроструктуры графита-прекурсора на процесс образования оксида графита
Оксид графита – перспективный материал для различных применений. Ключевую роль в процессе синтеза оксида играет тип графита. УДК 661.666.2, ВАК 05.16.09; DOI: 10.22184/1993-8578.2018.81.2.170.172
Наноиндустрия #5/2013
О.Синицына, Г.Мешков, И.Яминский
Определение формы острия зонда в атомно-силовой микроскопии
При определении параметров острия зонда сканирующего атомно-силового микроскопа (АСМ) с использованием нанообъектов с известными размерами возникают принципиальные методические проблемы. Заключаются они в сложности нахождения образцов с заранее известными размерами. В статье обсуждается спектр связанных с этими проблемами вопросов.
Разработка: студия Green Art