Наноиндустрия #7/2017
А.Курангышев, Н.Шилов, В.Курангышев
Измерение толщины полимерной оболочки на поверхности субмикронных частиц наполнителя полимерно-композиционных материалов
Разработан метод и определены оптимальные параметры оптической системы для измерения толщины полимерной оболочки на поверхности субмикронных частиц оксида цинка с разрешением 20 нм. УДК 535.36, ВАК 05.11.13, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.78.7.54.64
Аналитика #4/2013
А.Гришина, В.Золотаревский, А.Ванников
Супрамолекулярные ансамбли порфиринатов металлов: изучение методом атомно-силовой микроскопии
Проблема получения новых полимерных материалов, обладающих фоторефрактивными свойствами, весьма актуальна. Фоторефрактивный эффект наблюдается в кристаллах и полимерных композитных матрицах под действием лазерного излучения и состоит в изменении показателя преломления. В работе изучены свойства твердотельного фоторефрактивного композитного материала, состоящего из супрамолекулярных ансамблей молекулярных комплексов (R4Pc)Ru(TED)2 с высокой температурой стеклования. Фоторефрактивный эффект в них связан с высокой нелинейной электрической восприимчивостью третьего порядка, а фотоэлектрическая и фоторефрактивная чувствительность проявляется в ближней инфракрасной области.