Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "профилометр"

Наноиндустрия #6/2019
Б.А.Логинов, П.Б. Логинов, В.Б. Логинов, А.Б.Логинов
Зондовая микроскопия: применения и рекомендации по разработке

DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.6.366.369 В связи с 40-й годовщиной изобретения сканирующей зондовой микроскопии обобщается опыт ее развития коллективом авторов, приводятся примеры и характеристики исторически сложившихся приложений зондовой микроскопии, даются рекомендации и формулы для последующих разработок.

Наноиндустрия #5/2011
Х.Фишер
Новый метод формирования топографических рамановских изображений

Комбинация системы конфокального рамановского отображения и оптического профилометра дает возможность получать конфокальные изображения распределения химических веществ по поверхности больших образцов. Дополнение рамановской и атомной силовой микроскопии новым методом обеспечивает значительные преимущества.