sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по нанотехнологиям
Под редакцией Ю-Винг Май, Жонг-Жен Ю
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "сканирующий электронный микроскоп"
Аналитика #1/2022
В. Б. Барановская, М. С. Доронина
Приборная база ИОНХ РАН для инновационных материалов и технологий. Репортаж из Центра коллективного пользования
10.22184/2227-572X.2022.12.1.14.32 Центр коллективного пользования физическими методами исследования веществ и материалов создан на базе одного из ведущих научно-­исследовательских институтов страны с богатейшей историей и огромным потенциалом развития. ИОНХ РАН является институтом первой (высшей) категории по рейтингу Минобрнауки РФ. Входит в международный академический рейтинг ведущих научных институтов и вузов CWUR (Center for Word University Rankings). Находится в тройке лидеров в рейтинге публикационной активности научных организаций России по химии за период 2018-2021 годов по данным международной базы Scopus. Состоит в Ассоциации аналитических центров России «Аналитика».
Наноиндустрия #1/2014
М.Фадеев
Решения для высококачественного анализа микро- и наноструктур
Необходимым условием для качественного анализа микро- и наноструктур является правильная подготовка образцов. Проблема актуальна во многих высокотехнологичных областях: в полупроводниковом производстве, при изготовлении МЭМС и в научных исследованиях.
Разработка: студия Green Art