Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "transmission electron microscope"

Аналитика #3/2018
Разработка универсального электронного микроскопа JEM-F200 (F2)

Аналитические системы высокого разрешения, такие как просвечивающие электронные микроскопы (TEM) и сканирующие просвечивающие электронные микроскопы (STEM) востребованы многими исследователями. Современные микроскопы должны обеспечивать повышенное разрешение, а также улучшенные эффективность и простоту использования. Компания JEOL разработала универсальный электронный микроскоп нового поколения JEM-F200 (F2) с разрешением до 0,1 нм в режиме TEM и до 0,14 нм в режиме STEM. Разработан новый, ориентированный на интуитивное управление пользовательский интерфейс. JEM-F200 (F2) комплектуется программными модулями для управления работой микроскопа и для анализа изображений. Использование системы конденсоров с четырьмя линзами позволяет получать высококачественные изображения методами светлого и темного полей. Микроскоп оснащен автоматической системой установки/извлечения держателя образца SPECPORTER, а также позволяет использовать держатели для приборов предыдущих серий. Помимо электронной пушки с катодом Шотки, JEM-F200 (F2) может комплектоваться усовершенствованным источником с холодным катодом. Новый прибор является универсальным инструментом для решения широкого спектра исследовательских задач, включая анализ материалов, макромолекулярный анализ и криоэлектронную микроскопию. УДК 53.086; ВАК 05.11.01 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.40.3.274.282

Электроника НТБ #9/2014
Д.Громов, А.Козлитин, А.Савицкий, А.Трифонов
КИНЕТИКА ФОРМИРОВАНИЯ КЛАСТЕРОВ СЕРЕБРА НА АМОРФНОМ УГЛЕРОДЕ ПРИ ВАКУУМНО-ТЕРМИЧЕСКОМ ИСПАРЕНИИ

Исследована эволюция тонких пленок серебра различной толщины, осажденных на аморфные пленки углерода, в процессе нагрева в вакууме для развития представлений о процессе образования массивов нанокластеров в результате распада пленок на капли. Изучены факторы, определяющие диаметры кластеров, образующихся в процессе распада тонкой пленки. Для пленок толщиной 1–8 нм характерно унимодальное распределение числа кластеров по размерам. Пленки данной толщины не являются сплошными, а представляют собой массив агломератов, которые в процессе отжига при 230˚C распадаются на отдельные кластеры. При распаде пленок серебра толщиной более 10 нм наблюдается две группы наиболее предпочтительных диаметров кластеров. Бимодальный характер распределения обусловлен неполным распадом пленки серебра на капли. Отжиг нанокластеров серебра в атмосфере сероводорода в течение 12 ч приводит к образованию сульфида серебра Ag2S с моноклинной кристаллической решеткой.

Наноиндустрия #1/2014
М.Фадеев
Решения для высококачественного анализа микро- и наноструктур

Необходимым условием для качественного анализа микро- и наноструктур является правильная подготовка образцов. Проблема актуальна во многих высокотехнологичных областях: в полупроводниковом производстве, при изготовлении МЭМС и в научных исследованиях.