sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по нанотехнологиям
Под ред. Л.И. Трахтенберга, М.Я. Мельникова
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "сканирующий зондовый микроскоп"
Станкоинструмент #3/2024
А. Ф. Колесанов, А. И. Лаптев, Б. А. Логинов, В. Б. Логинов, А. А. Панкратов, Н. И. Полушин
Финишная полировка пластины алмаза в разработанном механическом держателе с контролем качества полировки сканирующими зондовыми микроскопами
DOI: 10.22184/2499-9407.2024.36.3.34.39 Разработан механический держатель для полировки тонких алмазных пластин, проведено определение наименьшей шероховатости поверхности алмазных пластин при ручной механической финишной полировке с имитацией режима квазипластичности, подтверждена возможность использования микроскопа СММ 2000 в экспресс анализе при отработке процесса полирования.
Наноиндустрия #1/2019
И.В.Яминский, А.И.Ахметова, Г.Б.Мешков, Ф.Салехи
ФемтоСкан в Тегеране
Приведены результаты сотрудничества ученых МГУ и Технологического университета имени Шарифа (Тегеран, Иран). Проведен мастер-класс в Тегеране для студентов, аспирантов и научных сотрудников. Методом сканирующей зондовой микроскопии исследованы образцы оксида графена и тонких пленок оксида железа в рамках проекта "Инициация локальных химических реакций в осажденных тонких пленках с использованием сканирующей зондовой микроскопии". DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.1.68.71
Наноиндустрия #1/2019
И.В.Яминский, А.И.Ахметова
Школе нужен ФемтоСкан
Попадание в топ-10 глобального рейтинга качества общего образования требует вовлеченности всех участников образовательного процесса. Технологические вызовы становятся все сложнее, тренд на миниатюризацию не достигнет предела в ближайшие годы. Электронные платы приближаются к нанометровым размерам, точность позиционирования и обработки станками с ЧПУ выходят на субмикронный уровень. Умение пользоваться сканирующим зондовым микроскопом становится частью школьного образования. DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.1.64.66
Наноиндустрия #3/2018
А.Ахметова, Г.Мешков, О.Синицына, И.Яминский
Методы наноскопии для направленной модификации наноразмерных 2D-структур и определения их физико-химических и электрофизических характеристик
Рассмотрены методы локальной модификации углеродной поверхности с помощью атомно-силовой микроскопии на воздухе и сканирующей капиллярной микроскопии в растворах электролитов. Отмечено, что применение сканирующей зондовой микроскопии позволяет определить строение, физико-химические и электрофизические характеристики 2D-структур с пространственным разрешением до единиц и долей нанометра. УДК 621.385.833; ВАК 05.11.13; DOI: 10.22184/1993-8578.2018.83.3.246.249
Наноиндустрия #3/2017
И.Яминский
Секрет толкушки для пюре
В ЦМИТ "Нанотехнологии" дети учатся решать практические проблемы с использованием 3D-моделирования, 3D-печати, 3D-сканирования, 3D-механообработки, нанотехнологий. УДК 374, ВАК 13.00.08, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.73.3.72.75
Наноиндустрия #1/2017
А.Ахметова, Ю.Белов, Г.Мешков, И.Яминский
Системы 3D-позиционирования в точной обработке материалов
Развитие техники сканирующей зондовой микроскопии позволило решить ряд сложных задач по перемещению и обработке объектов с нанометровой точностью. Такая возможность востребована в современных областях прецизионной обработки материалов. DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.102.104
Наноиндустрия #1/2017
А.Ахметова, И.Яминский
Раннее обнаружение вирусов и бактерий с использованием методов нанотехнологий
Нанотехнологии открывают новые пути раннего обнаружения вирусных и бактериальных инфекций. Представлены два родственных метода, основанных на применении сканирующих зондовых микроскопов и пьезокерамических биочипов. DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.70.74
Наноиндустрия #8/2016
А.Ахметова, Н.Гутник, Г.Мешков, И.Назаров, О.Синицына, И.Яминский
Биосенсор для обнаружения вирусов и бактерий в жидкостях
Приведено описание разработки компактного и недорогого биосенсора, предназначенного для использования в медицинской диагностике. DOI:10.22184/1993-8578.2016.70.8.68.73
Наноиндустрия #7/2016
А.Ахметова, Г.Мешков, И.Назаров, О.Синицына, И.Яминский
Обнаружение вирусов и бактерий в сканирующей зондовой микроскопии
Рассмотрены перспективы применения проточной жидкостной ячейки и специализированного биочипа для фиксации биообъектов. DOI:10.22184/1993-8578.2016.69.7.80.85
Наноиндустрия #4/2016
Д.Колесов, И.Яминский, А.Ахметова, О.Синицына, Г.Мешков
Кантилеверные биосенсоры для обнаружения вирусов и бактерий
Кантилеверные биосенсоры являются многообещающей платформой для создания высокочувствительных и селективных сенсорных устройств. В первой части статьи рассмотрены история вопроса, свойства микрокантилеверов, технологии их производства и биофункционализации, а также способы детекции. DOI:10.22184/1993-8578.2016.66.4.26.35
1
2
Разработка: студия Green Art