Станкоинструмент #3/2024
А. Ф. Колесанов, А. И. Лаптев, Б. А. Логинов, В. Б. Логинов, А. А. Панкратов, Н. И. Полушин
Финишная полировка пластины алмаза в разработанном механическом держателе с контролем качества полировки сканирующими зондовыми микроскопами DOI: 10.22184/2499-9407.2024.36.3.34.39 Разработан механический держатель для полировки тонких алмазных пластин, проведено определение наименьшей шероховатости поверхности алмазных пластин при ручной механической финишной полировке с имитацией режима квазипластичности, подтверждена возможность использования микроскопа СММ 2000 в экспресс анализе при отработке процесса полирования. Наноиндустрия #2/2022
А.А.Трухова, А.С.Филонов, И.В.Яминский
СЛОВА И СЛАВА ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ: ЯЗЫК ДО ПЕКИНА ДОВЕДЕТ DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2022.15.2.88.94 В этой статье мы поговорим не о приборах, а о языке сканирующей зондовой микроскопии: об используемых словах, терминах, обозначениях. Программное обеспечение "ФемтоСкан Онлайн" широко используется в научных сообществах и до недавнего времени было представлено на двух языках: русском и английском. Теперь "ФемтоСкан Онлайн" стало доступно и на китайском языке, самом распространенном языке в мире. О том, как был произведен перевод интерфейса программы, мы расскажем в этой статье. В 1990 году МГУ посетил Нобелевский лауреат Хайнрих Рорер. На память осталась фотография и воспоминания об обаянии этого замечательного ученого и человека. А также дарственная надпись I wish all the best in local probing. В 1990 году еще не появился ни термин scanning probe microscopy, ни "сканирующая зондовая микроскопия". В 1993 году в журнале "Электронная промышленность" вышла серия статей, где мы описали методы локального зондирования поверхности [1]. Краткая триада "сканирующая зондовая микроскопия" появилась позже. Наноиндустрия #2/2019
И.В.Яминский, А.И.Ахметова, Г.Б.Мешков
Сканирующая зондовая микроскопия в исследованиях тонких пленок В рамках российско-иранского проекта "Инициация локальных химических реакций в осажденных тонких пленках с использованием сканирующей зондовой микроскопии" продолжены исследования с помощью СЗМ и КМ по созданию многопараметрической литографии. Получены оригинальные результаты по контролируемой модификации поверхности. Точность капиллярной нанолитографии находится на уровне единиц нанометров. DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.2.128.130 Наноиндустрия #1/2019
И.В.Яминский, А.И.Ахметова, Г.Б.Мешков, Ф.Салехи
ФемтоСкан в Тегеране Приведены результаты сотрудничества ученых МГУ и Технологического университета имени Шарифа (Тегеран, Иран). Проведен мастер-класс в Тегеране для студентов, аспирантов и научных сотрудников. Методом сканирующей зондовой микроскопии исследованы образцы оксида графена и тонких пленок оксида железа в рамках проекта "Инициация локальных химических реакций в осажденных тонких пленках с использованием сканирующей зондовой микроскопии". DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.1.68.71 Наноиндустрия #1/2019
И.В.Яминский, А.И.Ахметова
Школе нужен ФемтоСкан Попадание в топ-10 глобального рейтинга качества общего образования требует вовлеченности всех участников образовательного процесса. Технологические вызовы становятся все сложнее, тренд на миниатюризацию не достигнет предела в ближайшие годы. Электронные платы приближаются к нанометровым размерам, точность позиционирования и обработки станками с ЧПУ выходят на субмикронный уровень. Умение пользоваться сканирующим зондовым микроскопом становится частью школьного образования. DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.1.64.66 Наноиндустрия #3/2018
А.Ахметова, Г.Мешков, О.Синицына, И.Яминский
Методы наноскопии для направленной модификации наноразмерных 2D-структур и определения их физико-химических и электрофизических характеристик Рассмотрены методы локальной модификации углеродной поверхности с помощью атомно-силовой микроскопии на воздухе и сканирующей капиллярной микроскопии в растворах электролитов. Отмечено, что применение сканирующей зондовой микроскопии позволяет определить строение, физико-химические и электрофизические характеристики 2D-структур с пространственным разрешением до единиц и долей нанометра. УДК 621.385.833; ВАК 05.11.13; DOI: 10.22184/1993-8578.2018.83.3.246.249 Наноиндустрия #3/2017
И.Яминский
Секрет толкушки для пюре В ЦМИТ "Нанотехнологии" дети учатся решать практические проблемы с использованием 3D-моделирования, 3D-печати, 3D-сканирования, 3D-механообработки, нанотехнологий. УДК 374, ВАК 13.00.08, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.73.3.72.75 Наноиндустрия #1/2017
А.Ахметова, Ю.Белов, Г.Мешков, И.Яминский
Системы 3D-позиционирования в точной обработке материалов Развитие техники сканирующей зондовой микроскопии позволило решить ряд сложных задач по перемещению и обработке объектов с нанометровой точностью. Такая возможность востребована в современных областях прецизионной обработки материалов. DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.102.104 Наноиндустрия #7/2016
А.Ахметова, Г.Мешков, И.Назаров, О.Синицына, И.Яминский
Обнаружение вирусов и бактерий в сканирующей зондовой микроскопии Рассмотрены перспективы применения проточной жидкостной ячейки и специализированного биочипа для фиксации биообъектов. DOI:10.22184/1993-8578.2016.69.7.80.85 Наноиндустрия #5/2016
Д.Колесов, И.Яминский, А.Ахметова, О.Синицына, Г.Мешков
Кантилеверные биосенсоры для обнаружения вирусов и бактерий Продолжая рассказ о кантилеверных биосенсорах, во второй части статьи (начало см. "Наноиндустрия", 2016, № 4(66), с. 26–35) рассмотрены варианты интеграции кантилеверных сенсоров в состав биоаналитических устройств и соответствующие им области применения, примеры биосенсоров для детекции биомолекул, преимущества и недостатки биосенсоров на основе микрокантилеверов, а также актуальные направления исследований. DOI:10.22184/1993-8578.2016.67.5.26.34