Наноиндустрия #1/2011
Д.Багров, И.Яминский, О.Шабурова А.Феофанов, К.Шайтан.
Электросиловая микроскопия наноразмерных объектов
Электросиловая микроскопия (ЭСМ) – специальный режим атомно-силовой микроскопии (АСМ), позволяющий получать информацию о градиенте электрического поля над поверхностью образца, а также о величине и знаке локализованных на ней зарядов. ЭСМ может применяться для проверки качества контактов и поиска дефектов в электрических схемах, обнаружения связанных зарядов, чтения и записи информации посредством изменения расположения зарядов на поверхности. В данной работе режим ЭСМ использован для наблюдения особенностей отдельных наночастиц.