Тег "atomic-force microscopy"
Наноиндустрия #5/2021 О.В.Синицына, М.М.Воробьев, И.В.Яминский Автоматизированный поиск наночастиц на изображениях зондовой микроскопии с использованием нейронной сети
DOI: 10.22184/1993-8578.2021.14.5.276.280 Использование автоматизированного поиска объектов в зондовой микроскопии дает ряд серьезных преимуществ: высокую скорость обработки данных, минимизацию влияния экспериментатора на процесс измерений, возможность увеличить объем данных, используемых для анализа. В данной работе на примере данных атомно-силовой микроскопии белковых наночастиц мы показали, что для поиска наночастиц, размеры которых сравнимы с уровнем шума, более точный результат дает алгоритм с использованием нейронной сети, тогда как более крупные наночастицы более точно выделяет пороговый алгоритм.
Наноиндустрия #2/2021 И.В.Яминский, А.И.Ахметова Атомно-силовая микроскопия: изучение вирусов
DOI: 10.22184/1993-8578.2021.14.2.102.106 Вирусы – это объекты природы размером в десятки-сотни нанометров. Они часто состоят из молекул всего лишь двух типов: нуклеиновой кислоты, ДНК или РНК и белков. Иногда добавляются и липиды. Вирусы не могут самостоятельно размножаться, как, например, бактерии. Репликацию вирусов проводит сама инфицированная клетка, для чего она нарабатывает много копий нуклеиновых кислот и белков. В статье мы рассмотрим в деталях с помощью атомно-силового микроскопа различные виды вирусов, увидим их структурные особенности, которые делают их неуязвимыми, и узнаем, может ли одна вирусная частица вызвать заболевание.
Электроника НТБ #9/2014 Р.Лапшин, П.Азанов НАНОЧАСТИЦЫ НИКЕЛЯ СНИЖАЮТ ТЕМПЕРАТУРУ СИНТЕЗА УГЛЕРОДНЫХ СТРУКТУР
Предложен метод осаждения каталитических наночастиц (КНЧ) никеля на поверхность гладкой подложки. Осаждение КНЧ производится в аргоновой плазме тлеющего разряда. КНЧ предназначены для синтеза углеродных наноструктур (УНС) методом плазмо-стимулированного химического осаждения из газовой фазы (ПСХОГФ). Благодаря высокой активности КНЧ температуру синтеза УНС удалось снизить с 750 до 150°C. Предложен путь, улучшающий управление размерами, формой и плотностью рассеяния по поверхности формируемых КНЧ.
Электроника НТБ #9/2014 Р.Лапшин ОСОБЕННОСТЬ-ОРИЕНТИРОВАННАЯ СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ: ПРЕЦИЗИОННЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ, НАНОМЕТРОЛОГИЯ, НАНОТЕХНОЛОГИИ "СНИЗУ-ВВЕРХ"
Дается краткое описание группы методов, лежащих в основе особенность-ориентированной сканирующей зондовой микроскопии (ООСЗМ) – нового подхода в сканирующей зондовой микроскопии, при котором измеряемая или модифицируемая поверхность представлена не “мертвым” массивом точек скана, а совокупностью особенностей, каждая из которых характеризуется своим собственным набором признаков. Работа с особенностями поверхности позволяет при комнатной температуре не только существенно увеличить точность измерения топографии поверхности и заметно улучшить разрешение зондового микроскопа, но и в перспективе реализовать автономно работающее многозондовое нанопроизводство “снизу-вверх”.
Наноиндустрия #2/2014 Е.Дубровин, Г.Мешков, И.Яминский Наблюдение вируса табачной мозаики в практикуме сканирующей зондовой микроскопии
Успешное развитие технологий нередко шло по пути подражания природным объектам и процессам, получившего название биомимикрии. Разумеется, и в нанотехнологиях биомимикрия имеет большой потенциал. Одним из наиболее простых (с точки зрения строения) природных объектов, размеры которых лежат в нанометровом диапазоне, являются вирусы.
Наноиндустрия #2/2014 Д.Гудилин Синтез образования, науки и производства: практический опыт
Уже более десяти лет в Московском государственном университете им. М.В.Ломоносова работает лаборатория сканирующей зондовой микроскопии, в которой проходят обучение студенты, ведут исследования аспиранты и сотрудники физического, химического, биологического и других факультетов университета. Основной инструмент – многофункциональные сканирующие зондовые микроскопы "ФемтоСкан" производства компании "Центр перспективных технологий".
Наноиндустрия #1/2011 Д.Багров, И.Яминский, О.Шабурова А.Феофанов, К.Шайтан. Электросиловая микроскопия наноразмерных объектов
Электросиловая микроскопия (ЭСМ) – специальный режим атомно-силовой микроскопии (АСМ), позволяющий получать информацию о градиенте электрического поля над поверхностью образца, а также о величине и знаке локализованных на ней зарядов. ЭСМ может применяться для проверки качества контактов и поиска дефектов в электрических схемах, обнаружения связанных зарядов, чтения и записи информации посредством изменения расположения зарядов на поверхности. В данной работе режим ЭСМ использован для наблюдения особенностей отдельных наночастиц.
eng
