Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега - сканирующая ион-проводящая микроскопия

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "сканирующая ион-проводящая микроскопия"

Наноиндустрия #2/2015
Е.Макарова, Д.Багров, П.Горелкин, А.Ерофеев, И.Яминский
Наблюдения эритроцитов с помощью атомно-силовой и сканирующей ион-проводящей микроскопии

В обзоре обсуждаются современные методики изучения поверхности эритроцитов методом АСМ. Приводятся результаты визуализации клеток с использованием сканирующего зондового микроскопа. Рассказывается об инновационном методе сканирующей ион-проводящей микроскопии с использованием стеклянных нанопипеток и приводятся результаты визуализации клеток. DOI:10.22184/1993-8578.2015.56.2.42.48