Наноиндустрия #5/2016
М.Бутюто, А.Русаков, К.Кравчук, А.Усеинов, И.Маслеников
Расширение рабочего диапазона нагрузки индентирования в нанотвердомерах серии "НаноСкан-4D"
Продемонстрированы результаты применения нового модуля расширения диапазона нагрузки при измерении твердости методом индентирования с помощью нанотвердомеров серии "НаноСкан-4D". Устройство увеличивает рабочий диапазон прикладываемых сил от 1 до 50 Н. DOI:10.22184/1993-8578.2016.67.5.36.40
Наноиндустрия #3/2016
К.Кравчук, А.Усеинов, И.Маслеников, С.Перфилов
Автоматизированный контроль параметров композитных изделий с помощью нанотвердомера "НаноСкан"
Возможность автоматизации большого объема рутинных измерений при применении нанотвердомера "НаноСкан" продемонстрирована на примере контроля прочностных свойств композитных элементов обрабатывающего инструмента. DOI:10.22184/1993-8578.2016.65.3.54.58
Наноиндустрия #2/2016
И.Маслеников, Е.Гладких, А.Усеинов, В.Решетов, Б.Логинов
Построение объемных карт механических свойств в режиме динамического механического анализа
Приведено описание методики построения объемной карты (томограммы) распределения твердости и модуля упругости (Юнга) по данным, полученным в режиме динамического механического анализа. В качестве объекта испытаний использовалась тонкая пленка меди на подложке из стекла. DOI:10.22184/1993-8578.2016.64.2.36.41
Наноиндустрия #4/2015
А.Усеинов, К.Кравчук, И.Маслеников, В.Решетов, М.Фомкина
Исследование прочности микрообъектов с помощью сканирующего нанотвердомера "НаноСкан"
Представлены результаты исследования механической прочности полиэлектролитных микрокапсул с применением нанотвердомера "НаноСкан-4D". DOI:10.22184/1993-8578.2015.58.4.54.60
Наноиндустрия #3/2015
Я.Станишевский, Д.Швитко, А.Марахова, В.Копылов, С.Панов
Неразрушающие методы исследования физико-механических и других свойств материалов, применяемых в стоматологии
Исследование основных свойств материалов, применяемых в стоматологической практике показало целесообразность их анализа неразрушающими методами – наноиндентированием и световой микроскопией. DOI: 10.22184/1993-8578.2015.57.3.76.84